판매용 중고 FEI Titan CT #293595104
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판매
ID: 293595104
Transmission Electron Microscope (TEM)
Field emission GUN
HR-TEM
STEM Polepieces
EDX EDAX Detector
GATAN Triediem EELS energy filter
EELS and EFTEM Chemical analysis and mapping
TEM/STEM Tomography
Electron diffraction
Resolution: 0.24 nm
Limit: 0.12 nm
EFTEM Resolution: 1 nm
STEM-Resolution: 0.17 nm
Electron tomography resolution: 1 nm in X and Y
Thickness of < 500 nm
TEM Cabinet
Power cabinet
Optics cabinet
HT Tank
Camera cabinet
Pumps
With hoist
Water chiller
Gun
Qty / Description
(1) / Allen key
(2) / X-Ray screws
(1) / Torque screwdriver
(3) / Cabinet keys
(1) / Dewar cover
(1) / Feg inner vessel server gauge
(1) / Pump clamps
(1) / ESS box
(1) / ESS Cable monitor cable
(1) / Column service tools
(1) / Bellow
(1) / Column lift tools
(1) / Column foot
(1) / Bake out tools with SF6 Hose
(1) / Support PC
(3) / Monitors
(2) / Mouse and keyboards
(1) / VGA Power cable for SPC
(1) / Hand panels
(1) / Compustage service tools
(2) / Holders
(1) / Dewar bottle
(1) / Frame screws
Power supply: 80-300 kV.
FEI Titan CT는 고체 물질의 표면 구조를 이미징 및 분석하는 데 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 소규모 (small) 및 대규모 (large scale) 의 샘플을 자세히 분석하기 위한 다양한 시야 옵션이 있습니다. 타이탄 CT (Titan CT) 에는 CFES (Cold Field-Emission Source) 가 장착되어 있으며, 이는 샘플 기능의 해상도를 향상시키는 전자 프로브 전류를 증가시킵니다. 또한 CFES는 일반적으로 기존 SEM과 관련된 입자의 충전을 줄입니다. 업그레이드 된 컴퓨터 처리 기능을 통해 FEI Titan CT는 전례없는 속도로 다중 모달 이미지 데이터를 얻을 수 있습니다. 이를 통해 샘플의 광범위한 미세 구조 특성이 가능합니다. Titan CT는 검출기 제품군을 사용하여 샘플에서 신호를 얻습니다. BSE (Backscattered Electron) 검출기는 1 차 전자가 샘플 원자를 공격할 때 방출 된 2 차 전자를 탐지 할 수있다. 이것들은 얕고 깊은 초점이있는 표본의 지형 세부 사항을 제공합니다. SE (Secondary Electron) 검출기는 1 차 전자가 샘플 표면과 상호 작용할 때 방출되는 전자를 감지하여 더 높은 대비 SEM 이미지를 생성하기 위해 더 지형적인 세부 사항을 제공 할 수 있습니다. 방출 된 전자의 에너지 스펙트럼을 분석하는 데 사용할 수있는 Parallel Detector도 있습니다. FEI Titan CT는 또한 샘플의 화학 분석을위한 EDS (Energy Dispersive X-Ray Spectrometry) 검출기를 포함 할 수 있습니다. 이 기법 은 "에너지 '를 기초 로 한 원소 들 을 1 차 전자 로 치면 분화 시킨다. 또한, EDS 검출기를 사용하여 표본의 원소 농도를 측정하여, 화학을 더 잘 이해할 수 있습니다. 타이탄 CT (Titan CT) 는 또한 강력한 수차 수정 이미지 해상도를 제공하여 최대 1nm 해상도로 매우 상세한 이미지를 생성합니다. 이렇게 하면 곡물 경계, 공백, 균열 과 같은 훌륭 한 특징 들 을 관찰 할 수 있습니다. FEI Titan CT는 또한 DIC (Digital Image Correlation) 를 생성하여 표본의 표면을 설명하는 데 필요한 모든 관련 매개변수를 결정할 수 있습니다. DIC 기법은 샘플의 형태 및 변형 정보를 모두 얻기 위해 사용됩니다. 마지막으로, 타이탄 CT (Titan CT) 는 자동 진공 프로세스를 특징으로하며, 이는 전자 소스의 빔 스팟 수명을 줄이고 연장 된 시간 동안 결함이없는 작동을 보장합니다. FEI Titan CT는 표본 준비를위한 다양한 자동화 된 사용자 친화적 인 기능도 제공합니다. 결론적으로, Titan CT는 다양한 크기의 샘플을 이미징 및 분석하기위한 복잡하고 강력한 도구입니다. 첨단 인체 공학과 특징으로 인해 현미경 전문가에게 선호되는 선택입니다.
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