판매용 중고 FEI TEMLink 14771-003 #9298772

FEI TEMLink 14771-003은 고해상도 이미징, 분석 및 자동화 응용 프로그램을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 리서치급 전자현미경 (microscope) 을 위한 비용 효율적인 솔루션으로, 다양한 기능과 고급 성능을 갖추고 있습니다. TEMLink 14771-003에는 듀티 사이클이 높고 최고 밝기가 100 nenAmps/cm2 인 in-lens Field Emission Source (FES) 가 장착되어 있습니다. 이 기술을 통해 이미징 및 자동 분석에서 매우 높은 해상도를 얻을 수 있습니다. 또한 FEI TEMLink 14771-003에는 원소 분석 및 화학 검출을위한 통합 표면 분석 장비 (SAXFPE) 가 장착되어 있습니다. 이 시스템에는 최대 데이터 정확도를 보장하기 위해 AE 검출기, EDX 검출기, 초 스펙트럼 이미징 장치 및 STEM 검출기가 장착되어 있습니다. TEMLink 14771-003의 디자인에는 고해상도 기능도 포함되어 있습니다. 긴 작업 거리 (35 미크론) 와 높은 수치 조리개 (1.2) 로 FEI TEMLink 14771-003은 최대 4 nm 해상도에서 샘플을 이미지하고 분석 할 수 있습니다. TEMLink 14771-003 (TEMLink 14771-003) 은 또한 구성 요소의 소프트웨어 제어를 통해 시스템을 원격 작동 및 자동화할 수 있습니다. FEI TEMLink 14771-003에는 자동 기계 분석 프로그램뿐만 아니라 다양한 이미지 처리 기능도 제공됩니다. 이러한 프로그램에는 통계 분석 도구 및 인공 지능 (AI) 구동 객체 분류 도구가 포함됩니다. 공구 설정 자동화를 사용하여 신뢰할 수 있는 측정에 대한 미리 정의된 이미징 매개변수 및 보정을 설정할 수 있습니다. 마지막으로, TEMLink 14771-003에는 장기 및 단기 실험 중에 현미경을 안정적이고 안전하게 유지하기위한 환경 제어 옵션도 포함되어 있습니다. 여기에는 제어 대기, 습도 챔버, 압력 및 진동 제어, 진공 자산과 같은 기능이 포함됩니다. 전반적으로 FEI TEMLink 14771-003은 연구 등급 이미징 및 분석에 적합한 고성능 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 이미징, 표면 분석, 자동화, 환경 관리 등에 적합한 다양한 기능을 갖추고 있습니다. in-lens FES (Field Emission Source) 및 소프트웨어 자동화 기능을 통해 비용 효율적인 솔루션에서 고해상도 이미징 및 자동 분석을 수행할 수 있습니다.