판매용 중고 FEI Tecnai G2 F30 #9199627

FEI Tecnai G2 F30 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 나노 크기의 입자와 구조를 이미징하기위한 강력하고 고해상도 기구로, 최대 30 nm 해상도의 이미지를 제작할 수 있습니다. 이 도구는 금속 합금, 반도체, 도자기 등 무기 및 나노 크기의 물질의 이미징에 최적화되어 있습니다. Tecnai G2 F30에는 FEG (Field Emission Gun) 전자원이 장착되어 있어 이미지의 안정성, 품질 및 해상도를 향상시킵니다. 이 전자 소스 (electron source) 는 또한 더 빠른 표본 분석을위한 처리량을 향상시켜 더 높은 정밀도와 결과의 일관성을 초래합니다. FEI Tecnai G2 F30 Scanning Electron Microscope는 높은 CONTANGO 민감성 샘플, 효율적인 분석 작업 및 3D 이미징에 이상적인 밝고 고해상도 전자 열을 통합합니다. 현미경의 작동 효율성은 스마트 APE (Smart APE) 기술을 포함시켜 더욱 향상되었으며, 이는 영상을 찍을 수 있도록 전자 빔 에너지 (electron beam energy) 와 밝기를 자동으로 최적화합니다. 이미지 처리 기능 외에도 Tecnai G2 F30에는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS), 전자 백스캐터 회절 (EBSD), 스캐닝 전자 현미경 에너지 분산 분광법 (SEMM) 및 EM (EMM) 과 같은 고급 분석 방법도 있습니다. 이러 한 분석 방법 은 표본 들 을 보다 정확 하고 상세 히 살펴볼 수 있게 해 주며, 그 들 의 구성, 구조, 특성 을 더욱 깊이 이해 할 수 있게 해 줍니다. 이 시스템에는 자동화 단계, 샘플 홀더 및 마운트, 정확한 조명 측정을위한 조리개, 표본 정렬을위한 조명 기술, 저에너지 및 고에너지 이온 검출을위한 다양한 Everhart-Thornley 검출기 등 다양한 액세서리가 포함됩니다.. FEI Tecnai G2 F30 스캐닝 전자 현미경은 연구, 산업 및 교육 응용 분야에 이상적입니다. 정밀 엔지니어링 (Precision Engineering), 정교한 전자 제품, 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 기능을 통해 금속 합금부터 반도체에 이르기까지 다양한 재료에 대한 자세한 정보를 원하는 모든 사용자에게 귀중한 툴이 될 수 있습니다.