판매용 중고 FEI Tecnai F20 #293597491
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ID: 293597491
빈티지: 2003
Transmission Electron Microscope (TEM)
PFEIFFER D-35614 Asslar Vacuum pressure gauge
Power supply: 190-260 V, 50/60 Hz
2003 vintage.
FEI Tecnai F20은 생물학적 및 물질 표본의 고해상도 이미징을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 테크 나이 F20 (Tecnai F20) 은 높은 수준의 성능과 운영 유연성을 갖추고 있으며, 재료 과학 및 생명 과학 나노 기술 (nanotechnology) 에 사용되는 강력한 분석 이미징 시스템을 제공하며, 다양한 응용 프로그램에 대한 연구를 제공합니다. FEI Tecnai F20의 Accelerating Voltage Range는 최대 250,000X의 VMS (Variable Magnification Stigmas) 기능을 가능하게하여 다양한 나노 스케일 이미징 응용 분야에 이상적인 도구입니다. 즉, 다양한 샘플 유형을 통해 탁월한 이미지 및 데이터를 얻을 수 있습니다. 이 빔은 또한 젖은 탄화수소 기반 샘플의 특수 영상을 위해 환경 주사 전자 현미경 (ESEM) 과 함께 사용할 수 있도록 준비 될 수있다. Tecnai F20은 필드 방출 인 렌즈 감지, 고해상도 이미징 및 백스캐터 전자 검출기 (BSD) 기능을 포함한 여러 가지 고급 이미징 기능으로 설계되었습니다. BSD 모듈을 사용하여, 역 산란 및 2 차 전자를 사용하여 샘플 관련 정보를 미세한 디테일로 수집합니다. 렌즈 내 검출 시스템은 또한 감도 손실없이 매우 빠른 영상을 허용합니다. 또한 FEI Tecnai F20은 이미지 경험을 향상시키기 위해 다양한 다른 기능을 제공합니다. 자동 설정 (Autostig) 프로그램은 현재 샘플에 따라 이미징 매개변수를 자동으로 최적화하며, 빠른 탐색 (navigation) 및 탐색 도구 (navigation aids) 를 사용하여 이미지 사이를 빠르게 탐색하여 더 나은 뷰를 제공합니다. Tecnai F20에는 구매 시간을 최소화하도록 설계된 Navigator 고속 모드 스캐닝 스테이지가 장착되어 있습니다. 자동 전자 빔 스캔을 사용하면 여러 이미지를 순서대로 기록 할 수도 있습니다. 사용자 친화적 인 기능과 함께 FEI Tecnai F20에는 강력한 분석 소프트웨어 패키지가 장착되어 있어 데이터 분석과 디지털 이미징 (digital imaging) 이 정확합니다. 이 소프트웨어는 복잡한 3D 재구성 및 정량화, 자동 이미지 스태킹 및 측정 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 전반적으로 Tecnai F20은 뛰어난 해상도와 이미징 역학을 제공하는 강력한 도구입니다. 다양한 기능과 성능 (Performance) 기능을 통해 다양한 연구 애플리케이션의 안정적이고 정확한 결과를 보장할 수 있습니다.
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