판매용 중고 FEI Quanta 250 FEG #293686361

FEI Quanta 250 FEG는 재료 과학, 생명 과학, 나노 기술 및 반도체 등 다양한 분야의 고해상도 이미징 및 고급 분석 기능을 위해 설계된 정교한 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. FEI Quanta 시리즈의 주력 기기 인 Quanta 250 FEG는 혁신적인 기술을 통합하여 광범위한 리서치 애플리케이션에 뛰어난 성능과 다양성을 제공합니다. FEI Quanta 250 FEG의 주요 특징 중 하나는 FEG (field emission gun) 전자원이며, 이는 높은 밝기와 일관성을 가진 매우 안정적인 전자 빔을 제공합니다. 이를 통해 현미경은 나노 미터 (nanometer) 이하의 수준까지 뛰어난 이미징 해상도를 달성 할 수 있으며, 연구자들은 탁월한 선명도로 미세한 세부 사항과 구조를 시각화 할 수 있습니다. 또한 FEG 소스는 향상된 빔 제어 (beam control) 및 빔 전류 안정성을 제공하여 일관되고 재현 가능한 이미징 결과를 제공합니다. Quanta 250 FEG에는 2 차 전자 (SE) 검출기, 역 산란 전자 (BSE) 검출기 및 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 검출기를 포함한 여러 검출기 옵션이 장착되어 있습니다. 이러한 탐지기 (detector) 는 동일한 기기에서 다양한 이미징 및 분석 기술을 수행 할 수 있도록 함으로써 FEI Quanta 250 FEG (FEI Quanta 250 FEG) 를 다양한 속성과 컴포지션으로 다양한 샘플을 특성화하기위한 다용도 도구로 만듭니다. 이미징 기능 측면에서 Quanta 250 FEG는 고 진공 (high-vacuum) 및 저 진공 (low-vacuum) 작동 모드를 모두 지원하므로 충전 효과가 발생하기 쉬운 비 전도성 재료를 포함하여 광범위한 샘플을 이미징할 수 있습니다. 이 기기는 또한 가변 압력 모드, 환경 SEM (Environmental SEM) 모드 및 저진공 모드 (low vacuum mode) 와 같은 고급 이미징 모드를 특징으로하며, 가변 수화 수준을 갖는 샘플의 이미징 및 광범위한 샘플 준비가 필요하지 않은 자연 상태의 샘플의 이미징. 고급 분석 기능을 위해 FEI Quanta 250 FEG에는 전자 빔 샘플 상호 작용 중에 방출되는 특성 X- 레이를 감지하여 샘플의 원소 분석을 허용하는 EDS 시스템이 있습니다. 이를 통해 연구원들은 샘플의 원소 구성을 식별하고 정량화하고, 샘플의 요소 분포를 매핑하고, 공간 해상도가 높은 원소 선 스캔 (elemental line scan) 을 수행 할 수 있습니다. 또한 Quanta 250 FEG는 데이터 수집, 처리 및 분석을위한 고급 소프트웨어 기능을 제공하여 연구원들이 이미지와 스펙트럼에서 귀중한 정보를 추출할 수 있습니다. 이 현미경은 직관적인 사용자 인터페이스, 자동화 도구, 이미지 처리 알고리즘 (생산성 향상, 데이터 해석) 을 제공하는 FEI 독점 소프트웨어 제품군을 포함한 다양한 이미징/분석 소프트웨어 패키지와 호환됩니다. 전반적으로 FEI Quanta 250 FEG 스캐닝 전자 현미경은 고해상도 이미징 기능과 고급 분석 기술을 결합하여 연구원들에게 광범위한 재료 및 샘플의 미세 구조, 구성, 특성을 연구하기위한 강력한 도구를 제공하는 최첨단 기기입니다. 우수한 성능, 다용도, 사용자 친화적 인터페이스를 갖춘 Quanta 250 FEG는 다양한 분야의 과학 연구 및 발견을위한 필수 도구입니다.