판매용 중고 FEI Nova NanoSEM 600 #293807963

ID: 293807963
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM) Electron source: Schottky field emission High and low vacuum with high resolution Decel mode for low KV Large chamber for flexibility Analytical capability Stage: 150 mm Detectors: SED, BSED and STEM.
FEI Nova Nano SEM 600은 사용자에게 나노 스케일 샘플에 대한 정확한 연구 데이터를 제공하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 제품은 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 과 재료 배열의 특성화에 도움이 되는 다양한 툴과 기능을 제공합니다. 이 장비는 완전히 자동화되어 사용이 간편하여 고급 연구 (Advanced Research) 작업에 적합한 제품입니다. Nova Nano SEM 600은 단색 전자 소스를 사용하여 사용자에게 고해상도 이미징 및 특성을 제공합니다. 0.1 ~ 12kV의 다양한 가속 전압, 2 차 전자, 백스캐터링 전자 및 특징적인 x- 레이 이미징을 포함한 여러 이미징 모드를 지원합니다. 고급 기능 검출로 자동 이미징을 위한 펄스 버스트 (pulse-burst) 신호를 지원하고, 완전 자동 영역 매핑을 위해 "전자 맵 (electronomap)" 이미지 seqeunces를 지원합니다. 이 시스템은 또한 고급 연구를위한 여러 도구와 기술을 제공합니다. 온도 범위가 -25 ~ 100도 인 펠티어 냉각 샘플 스테이지, 최대 ~ 300X 배율을위한 침수 된 오브젝티브 렌즈, 자동 틸트 스테이지, 자동 블레미쉬 검출기, 원소 매핑을위한 진공 샘플 특성 장치 및 나노 단층 촬영. 또한이 기계는 자동화 된 드리프트 수정 이미징 및 "전자 눈" 자동 기능을 사용하여 상황에 맞는 지능형 분석을 지원합니다. 정확한 샘플 조작을 위해 FEI Nova Nano SEM 600은 4축 전동 샘플 스테이지를 특징으로하며, 이는 기능 감지, 위치 지정 및 동작에서 서브 미크론 정확성을 제공합니다. 이 도구에는 자동 진공 및 압력 제어, 다양한 진공 내 액세서리, 엔드 투 엔드 자동화를 위한 임베디드 소프트웨어 (Embedded Software) 도 포함됩니다. 노바 나노 셈 (Nova Nano SEM 600) 은 종합적인 도구 세트와 첨단 이미징 및 특성 기능을 갖춘 최고의 나노 스케일 (nanoscale) 리서치 솔루션을 제공합니다. "나노월드 '를 극히 정확 하고 정확 하게 탐사 할 수 있게 해 주며, 그 들 은" 나노월드' 의 표본 들 에 대한 비길 데 없는 이해 를 얻을 수 있게 해 준다.
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