판매용 중고 FEI Nova NanoSEM 400 #9282097

FEI Nova Nano SEM 400 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 품질 제어 및 연구 목적을위한 재료의 나노 스케일 해상도 이미징을 제공하는 동급 최고의 기기 중 하나입니다. 이 SEM은 금속, 중합체, 복합 물질, 목재 복합 물질, 반도체 등 다양한 물질에서 표본의 고해상도 이미지를 캡처하는 고해상도 전자 검출기를 사용합니다. 이미지의 생산량은 기존 이미징 방식보다 최대 10 배나 밝으며, 원래 크기의 40 만 배까지 샘플을 확대할 수 있습니다. Nova Nano SEM 400에는 다양한 기능이 있어 고품질 이미지를 제공할 수 있습니다. 고단자 무게 렌즈는 다양한 확대율에 걸쳐 웅장한 이미지 품질을 제공합니다. 저진동 모터 스테이지 (low-vbration motorized stage) 는 측정이나 샘플의 피쳐를 정확하게 매핑하기 위해 빠르고 정확한 움직임을 만들 수 있습니다. 또한, FEI Nova Nano SEM 400은 자동 내비게이션 기능을 통해 자세한 샘플 이미지를 통해 손쉽게 탐색할 수 있습니다. 이 기능은 전자 빔을 몇 초 안에 자동으로 안내합니다. 이 주사 전자 현미경에는 에너지 분산 X 선 검출기가 장착되어 있어 표본 내에서 원소 조성을 분석 할 수 있습니다. 이 시스템은 합금의 분리 (segregation) 와 특정 요소의 농도 (concentration of specific elements) 를 분석하고 샘플에서 서로 다른 요소의 비율을 측정하는 데 이상적입니다. 또한, Nano SEM 400에는 하이퍼 스펙트럼 이미징 시스템 (hyper-spectral imaging system) 이 포함되어 있으며, 이를 통해 연구자들은 여러 파장에서 다양한 이미지를 동시에 캡처하고 샘플을 전체적으로 볼 수 있습니다. Nova Nano SEM 400은 다양한 샘플 분석을 제공합니다. 해상도가 4nm까지 낮은 2D 및 3D 이미지를 생성 할 수 있습니다. 또한 생물학적 표본, 지질 표본, 광물과 같은 비 전도성 물질을 이미징하는 데 적합합니다. 기계적 스트레스 (mechanical stress) 로 인한 새로운 피쳐의 핵화 (nucleation) 및 성장 (growth) 과 같은 재료의 변형을 측정하는 데 사용될 수도 있습니다. 전반적으로 FEI Nova Nano SEM 400은 매우 강력하고 정확한 도구이며, 전통적인 이미징 기술을 능가하는 성능을 제공합니다. 리서치 및 품질 관리 (Research and Quality Control) 설정에서 다양한 자동 분석 및 검사 응용 프로그램에 적합합니다.