판매용 중고 FEI Nova NanoSEM 230 #293768754
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ID: 293768754
빈티지: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM)
Low vacuum
Manual control panel
Backscattered Electron Detector (BSED)
Gaseous Analytical Detector (GAD)
Low‑Voltage Detector (LVD)
Variable Contrast Detector (vCD)
HELIX Detector
Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector
EDAX Element Energy‑Dispersive X‑ray (EDX) detector
Cryo pump
2012 vintage.
FEI Nova Nano SEM 230은 뛰어난 성능과 탁월한 이미징 품질의 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고에너지 전자검출기와 야전방출포 (Field Emission Gun) 를 활용해 고해상도 (High-Resolution) 이미지를 구현하고 견본에 비할 데 없는 세부 정보를 제공한다. 또한, Nano SEM 230의 고급 2 세대 및 3 세대 이미징 기술은 가변 빔 전류 및 가속 전압, 뛰어난 이미징 결과를 위해 확장 된 저용량 기능을 갖추고 있습니다. Nano SEM 230에는 샘플을 수용하기위한 큰 챔버 (chamber) 가 있으며, 0.8m 작업 거리로 포지셔닝 및 조작이 쉽습니다. 저진동 디자인은 안정성 및 스캔 감도를 향상시켜 이미징 성능을 향상시킵니다. 이미징을 더욱 향상시키기 위해 SEM에는 FlexSEM 피보팅 (pivoting) 검출기 암이 제공되어 다양한 시야가 가능합니다. 피보팅 암은 또한 이미징 (Imaging) 과 분석 (Analysis) 모드 사이에서 전환 할 때 더 큰 유연성을 제공합니다. Nova Nano SEM 230은 정교한 소프트웨어 플랫폼을 갖추고 있으며, 모든 SEM 기능을 사용하기 쉬운 하나의 인터페이스로 통합합니다. 소프트웨어의 고급 기능은 샘플 분석 (Sample analysis) 및 이미지 획득을 최적화하는 SEM 매개변수를 제어합니다. 또한, 이 소프트웨어에는 정교한 이미지 처리, 표면 분석 및 오버레이 기능이 포함되어 있습니다. 이러한 기능을 통해 과학자들은 분석 매개변수 (analysis parameters) 의 변경이 실제 실험 전에 이미징 결과에 어떤 영향을 미치는지 미리 보거나 샘플의 정확한 구성을 결정하여 비교할 수없는 정확도와 정밀도를 제공 할 수 있습니다. Nano SEM 230은 오래 지속되어 장기적인 신뢰성을 갖춘 뛰어난 성능을 제공합니다. 첨단 설계를 통해 이미징 개선을 위한 진동을 최소화하고, 정기적인 유지 관리의 필요성을 줄일 수 있습니다. 직관적 인 사용자 인터페이스 덕택에, 사용자가 기기와 그 기능을 신속하게 마스터할 수 있습니다. FEI Nova Nano SEM 230의 탁월한 성능과 정확성은 자세한 분석 결과와 정확한 이미지 생성에 관심이있는 과학자들을위한 강력한 도구입니다. SEM (Advanced System and Software) 기능은 유연성과 정확성을 높여 다양한 어플리케이션에 이상적인 Nano SEM 230을 제공합니다.
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