판매용 중고 FEI Nova NanoSEM 230 #293647256
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판매
ID: 293647256
Scanning Electron Microscope (SEM)
(3) Vacuums
OXFORD EDX SDD, 80 mm²
Manual control panel
Helix detector.
FEI Nova Nano SEM 230은 최고 배율과 함께 향상된 성능 및 가속 처리량을 제공하는 차세대 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 텅스텐 필라멘트 (Tungsten Filament) 를 사용하면 SEM이 최적화된 샘플 전송 및 처리 기능을 제공하여 사용자가 더 빠른 결과를 얻을 수 있습니다. 1.6nm 이하의 독보적 인 해상도는 단일 원자와 분자를 시청하고 고해상도 3D에서 나노 입자 및 반도체 결함을 이미징하는 데 이상적입니다. Nova Nano SEM 230의 주요 혁신 중 하나는 100V ~ 30kV 범위의 가변 전압으로, 전자 빔을 미세하게 제어 할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 속도, 해상도, 신호 대 잡음비 (signal-to-noise ratio) 간의 완벽한 균형을 유지하여 고품질 이미징을 만들 수 있습니다. 또한, 높은 확대 및 해상도는 뛰어난 토폴로지 및 형태 데이터를 제공합니다. 나노셈 (nanosem) 의 제어는 직관적이고 사용자 친화적이며, 배우기 쉽고 사용하기 쉽습니다. 이 현미경은 그래픽 사용자 인터페이스 (실시간 피드백 포함) 와 자동화된 이미지 최적화 및 이미지 분석 기능을 제공하는 고급 이미징 소프트웨어 패키지 (Advanced Imaging Software Package) 를 함께 제공합니다. SEM의 자동화는 또한 빠르고 쉬운 샘플 처리를 가능하게합니다. 통합 piezo 단계에 의해 제어되는 정밀 XY 스캔은 고속 작동과 정확한 샘플 이동을 제공합니다. SEM 은 다양한 예제 마운트 옵션을 제공하며, 다양한 자료를 수용할 수 있습니다. 또한, 큰 진공실은 여러 샘플을 염색 및 코팅하기위한 거리를 표본화 할 수있는 더 큰 샘플을 허용합니다. FEI Nova Nano SEM 230은 또한 느린 스캔, 초고해상도 또는 에너지 분산 x- 선 검출기를 포함한 탐지기를 선택할 수 있습니다. 이러한 기능은 고효율, 저소음 성능 및 뛰어난 감지를 제공합니다. 또한, Nova Nano SEM 230의 높은 정밀 형상은 검출기 데드 타임을 줄여 카운트 레이트를 최대 5 배 증가시키는 데 도움이됩니다. 전반적으로, FEI Nova Nano SEM 230은 물질을 분자 수준으로 특성화하기에 적합한 강력한 워크 호스 스캐닝 전자 현미경입니다. 높은 확대, 가변 전압 제어, 직관적인 사용자 인터페이스 및 사용자 친화적 인 샘플 처리 기능을 갖춘 Nova Nano SEM 230은 나노 스케일에서 이미징하기위한 최고의 도구입니다.
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