판매용 중고 FEI Inspect S50 #293624510

FEI Inspect S50은 연구 및 재료 분석에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고해상도 SEM을 사용하면 최대 500,000배까지 확대할 수 있는 넓은 영역에 비해 빠르고 정밀한 이미징 작업을 수행할 수 있습니다. S50 검사에는 유기 및 무기 재료의 지형 이미징을위한 특정 디지털 검출기가 있습니다. 디지털 위상 대비 이미징 (digital phase-contrast imaging) 기술을 통해 사용자는 세포벽에서 특정 생체 분자에 이르기까지 생물학적 시스템에서 다양한 발달 단계를 검사 할 수 있습니다. 디지털 클로즈드 루프 제어 (closed-loop control) 기술은 운영 수명이 길고 데이터 수집이 빠른 정확한 스캐닝을 제공하여 고대비 이미징을 제공합니다. 통합 CCD 카메라 및 이미지 컨트롤러는 고급 이미지 프로세싱 및 즉석 필터링 기능을 갖추고 있습니다. 직관적인 사용자 인터페이스와 함께 제공되는 이러한 이미징 기능을 통해 한정된 SEM 경험을 가진 운영자가 안정적이고 반복 가능한 결과를 얻을 수 있습니다 (영문). FEI Inspect S50은 또한 넓은 시야에 걸쳐 자동 빠른 검색, 자동 이미지 스티칭, 자동 데이터 분석 등 다양한 고급 자동화 옵션을 제공합니다. 온보드 사전 스캔 색채 및 방향 교정 시스템은 다운스트림 분석 시간을 최소화하고 처리량을 향상시킵니다. 검사 S50에는 환경 실도 장착되어 있습니다. 이렇게 하면 제어 환경에서 발견된 샘플을 이미징 및 측정할 수 있습니다. 온보드 난방 (integrated heating) 및 냉각 (cooling), 자동 가스 흐름 제어 (automated gas flow control) 및 샘플 환경 모니터링 (sample environment monitor) 과 같은 기능을 통해 가장 섬세한 샘플까지 정확한 환경 조건을 유지할 수 있습니다. 요약하면, FEI Inspect S50은 안정적이고 반복 가능한 결과를 위해 고급 이미징 및 자동화 기능을 제공하는 고해상도 SEM입니다. 최대 5 억 배 (약 1 억 원) 의 배율로 지형 이미지를 제작할 수 있으며, 환경실 (환경실) 을 통해 통제 환경에서 발견된 샘플의 이미징 및 측정이 가능합니다. 이 시스템은 모든 재료 분석 및 연구 응용 프로그램에 적합합니다.