판매용 중고 FEI Inspect F50 #9224409

FEI Inspect F50은 재료의 파괴적이지 않은 분석을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고급 설계 (Advanced Design) 와 엔지니어링 (Engineering) 을 비롯한 다양한 기능을 통해 뛰어난 견적 처리량, 뛰어난 해상도 및 정확도를 제공합니다. 검사 F50 (Inspect F50) 에는 열 내 에너지 필터 검출기가 장착되어 있어 해상도를 향상시키고 샘플에서 미세 구조를 보다 정확하게 이미징할 수 있습니다. 또한, 열 내 (in-column) 검출기를 조정하여 명암과 전체 시야 사이의 이상적인 균형을 제공합니다. 즉, 연산자가 최적의 명암과 이미지 품질을 얻을 수 있게 해 주며, 이는 특히 얇은 재료 레이어를 볼 때 유용합니다. 열 내 에너지 필터 검출기는 또한 샘플로받은 TID (total ionizing dose) 를 감소시켜 손상 민감성 물질에 이상적입니다. FEI Inspect F50에는 BSE (backscattered electron) 이미징, 가변 압력 이미징 및 EBSD (electron backscatter diffraction) 이미징을 포함한 다양한 고급 이미징 옵션이 있습니다. SEM의 역산포 전자 모드 (backscattered electron mode) 는 연산자가 샘플의 원소 조성 및 화학 상태를 감지 할 수있게한다. 가변 압력 이미징 (Variable Pressure Imaging) 은 낮은 진공에서 더 높은 품질의 이미징을 제공하며, 이는 부식 매핑 및 수화 된 샘플의 이미징과 같은 화학 변경 관련 응용 분야에 이상적입니다. 마지막으로, EBSD 이미징 (EBSD Imaging) 은 샘플의 결정 학적 구조를 분석하는 데 사용될 수 있으며, 이는 특성과 행동에 대한 중요한 통찰력을 제공합니다. 또한 F50 검사에는 다양한 사용자 친화적 기능을 통해 샘플 준비, 이미지 처리, 분석 작업을 간단하고 간단하게 수행할 수 있습니다. 예를 들어, 스테이지 모터는 xyz (xyz) 와 theta (세타) 컨트롤을 사용하여 다양한 이동을 제공하므로 사용자가 이미지를 위한 위치로 샘플을 빠르고 정확하게 이동할 수 있습니다. 또한 운영자 콘솔 (Operator Console) 은 모든 현미경 기능 및 설정에 쉽게 액세스할 수 있으며, 전문가와 신입생 모두 SEM 기능을 사용할 수 있습니다. 전반적으로 FEI Inspect F50은 재료 연구 및 분석을위한 훌륭한 SEM입니다. 첨단 이미징 (advanced imaging) 기능과 직관적인 운영 체제의 조합으로, 연구실과 업계 모두에게 이상적인 선택이 됩니다.