판매용 중고 FEI Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) #293757916

  • 사진 사용됨 FEI Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) 판매용
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스캔닝 전자 현미경
제조사
FEI
모델
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
ID: 293757916
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