판매용 중고 FEI FIB 200 #9082663

FEI FIB 200은 재료 분석 및 재료 특성과 같은 응용을 위해 설계된 고급, 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 초점 이온 빔 (FIB) 을 사용하여 재료의 내부 구조에 대한 고도로 확대, 상세한 이미지, 원자 정밀도로 샘플을 찍을 수있는 기능을 제공합니다. 고급 전자 장치 및 광학 시스템을 갖춘 FIB 200은 대부분의 SEM보다 높은 해상도와 빠른 스캐닝을 제공합니다. FEI FIB 200은 필드 방출 소스를 사용하여 매우 높은 전류에서 전자를 제공합니다. 이러 한 전자 는 일련 의 전자기 "렌즈 '에 의하여 초점 을 맞춘 다음, 표본 에" 양극' 에 의하여 가속 된다. 전자가 샘플 물질과 상호 작용하면, 이들은 SEM 시스템에 의해 감지 된 후 이미지로 처리되는 별개의 신호를 발생시킨다. FIB 200에는 작은 기능의 더 높은 해상도 이미지를 달성 할 수있는 구형 수차 교정기 (spherical aberration corrector) 가 있습니다. 이 시스템에 통합 된 집중된 이온 빔은 샘플 준비의 중요한 측면입니다. FIB를 통해 사용자는 샘플 재료 영역을 가져다가 얇은 레이어 (thin layer) 로 절단하여 추가 분석을 수행할 수 있습니다. 이 절단 과정 은 엄청나게 정확 하여, 원자 정밀도 로 "샘플 '을 준비 할 수 있다. 또한 표면 원자 (surface atoms) 를 제거하고 표본 (probe) 과 기판 (substrates) 을 샘플로 배치 할 수 있습니다. FEI FIB 200은 또한 사용자가 재료를 더 정확하게 분석 할 수있는 이미지 분석 및 측정 도구 (Suite of image analysis and measurement tools) 를 제공합니다. 여기에는 다차원 색상 매핑 및 자동 피쳐 템플릿과 같은 도구가 포함됩니다. 추가 분석을 위해 데이터를 내보내거나, 나중에 참조할 수 있도록 저장할 수 있습니다. 전반적으로 FIB 200은 나노 스케일 재료에 대한 귀중한 정보를 제공하는 도구가 장착 된 고급 SEM (Advanced SEM) 입니다. 통합 FIB (Integrated FIB) 와 결합된 탁월한 정밀도 및 해상도는 재료 분석 및 특성화에 이상적인 도구입니다.