판매용 중고 FEI CLM-3D #9364079

FEI CLM-3D는 고해상도 가변 압력 이미징 스캐닝 전자 현미경 (VPI-SEM) 입니다. 뛰어난 해상도, 이미징 기능, 유연성 등 다양한 스캐닝 (scanning) 전자 현미경과는 별개로, 광범위한 어플리케이션에 이상적인 선택입니다. CLM-3D는 치수가 5nm 작은 입자의 3D (3D) 이미징을 위해 설계된 최첨단 장치입니다. 최대 가속 전압 30kV 인 필드 방출 총 (FEG) 과 최대 가속 전압 4kV 인 고성능 열전 총 (TEG) 이 있으며, 둘 다 초저속 잔류 가스가 있습니다. FEI CLM-3D는 고해상도 이미징 기능과 최대 10,000배율 (배율) 을 자동화된 기능 모음과 결합하여 연구원들에게 뛰어난 디테일로 빠르고 정확하게 입자를 이미지화할 수있는 기능을 제공합니다. CLM-3D는 또한 조절 가능한 확장/압축 챔버 (expansion/compression chamber) 를 갖추고 있으며, 이를 통해 연구자들은 이미징 중 샘플 압력을 변경할 수 있습니다. 이를 통해 샘플이 최대한의 세부 (detail) 를 위해 최적 이미지화 (optimally image) 되었으며, 샘플이 선명도가 떨어지지 않고 왜곡되지 않은 이미지를 제공할 수 있을 정도로 안정적입니다. FEI CLM-3D에는 GFIS (Large Gas Field Ion Source) 를 포함한 다양한 고급 전자 탐지기 (Advanced Electron Detector) 가 장착되어 진공이 필요하지 않은 샘플을 이미징 할 수 있습니다. 이 다목적 이미징 장비는 또한 슬라이싱 단계, 기울기 단계, 저온 단계 및 반도체, 금속 및 절연체 연구를위한 가스장 이온 단계 (gas field ion stage) 와 같은 다양한 이미징 단계와 호환됩니다. CLM-3D는 나노 기술, 재료 과학 및 반도체 연구 분야의 연구원들에게 귀중한 도구입니다. 우수한 해상도와 강력한 이미징 기능 덕분에 FEI CLM-3D (FEI CLM-3D) 는 가장 연약한 표본을 분석하기에 이상적인 선택입니다. 정확성과 편리성의 조합으로, CLM-3D는 전자 현미경 스캐닝 (Scanning Electron Microscopy) 의 혁신의 선도적인 가장자리에 있는 종합적인 이미징 솔루션입니다.