판매용 중고 ETEC SYSTEM 712-4454-00 #293751465

ETEC Equipment 712-4454-00은 다양한 물질의 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 SEM (State-of-Art Scanning Electron Microscope) 입니다. 첨단 기술을 통합하여 현미경 (microscopy) 분야에서 탁월한 성능과 신뢰성을 제공합니다 (영문). 수많은 혁신적인 특징과 능력을 갖춘 712-4454-00 (712-4454-00) 은 연구원들과 과학자들이 매우 높은 배율로 다양한 재료의 미세 구조와 구성을 탐구 할 수있는 탁월한 기회를 제공합니다. ETEC System의 중심에 712-4454-00은 고성능 전자 광학 장치 (Electron Optical Unit) 로, 사용자는 뛰어난 이미징 해상도와 명암비를 얻을 수 있습니다. 이 기계 는 강력 한 전자 "렌즈 ', 정밀" 렌즈' 및 "탐지기 '로 구성 되어 있는데, 이" 렌즈' 는 관찰 중 에 분명 하고 상세 한 표본 의 "이미지 '를 만들어 내도록 조화 를 이룬다. SEM (Field Emission Electron Gun) 은 뛰어난 밝기 및 안정성으로 집중된 전자 빔을 생성하여 높은 배율에서도 최적의 이미징 성능을 보장하는 FEG (Field Emission Electron Gun) 를 갖추고 있습니다. 712-4454-00 (712-4454-00) 의 주요 강점 중 하나는 다용도 표본 처리 도구이며, 이를 통해 사용자는 다양한 크기와 모양의 샘플을 쉽게 분석 할 수 있습니다. SEM에는 다양한 샘플 홀더, 스테이지, 조작기 (manipulator) 가 있어 다양한 각도에서 이미징 및 분석을 위해 표본의 정확한 위치 지정 및 기울기가 가능합니다. 또한, 이 기기는 샘플 오염을 최소화하고 영상 효율을 극대화하는 최적의 진공 조건을 제공하는 고급 챔버 (advanced chamber) 설계를 갖추고 있습니다. ETEC Asset 712-4454-00은 연구원과 과학자의 다양한 요구에 맞게 다양한 이미징 모드 및 기술을 제공합니다. SEM은 2 차 전자 (SE) 및 BSE (backscattered electron) 이미징 모드 모두에서 고해상도 이미지를 캡처 할 수 있으며, 샘플의 지형과 조성에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. 또한, 이 기기는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 분석을 지원하여 사용자가 뛰어난 감도 및 정확도로 샘플의 원소 식별 및 매핑을 수행 할 수 있습니다. 712-4454-00 은 이미징 기능 외에도 고급 분석 툴 (Analytical Tools) 과 소프트웨어 (Software) 를 통해 재료의 심층적인 특성을 제공합니다. SEM (Automated Image Acquisition), 이미지 처리 (Image Processing), 3D 재구성 (3D Reconstruction) 등의 기능을 통해 샘플에 대한 상세한 형태 및 구조 정보를 생성할 수 있습니다. 게다가, 이 기기는 고급 데이터 분석 (Advanced Data Analysis) 및 정량화 (Quantification) 를 지원하여 결과의 해석과 종합적인 보고서 생성을 촉진합니다. 전반적으로, ETEC Model 712-4454-00은 현미경 분야에서 고성능 이미징 및 분석 능력을 추구하는 연구원 및 과학자를위한 최첨단 솔루션을 나타냅니다. 첨단 전자 광학 장비, 다용도 표본 처리, 종합적인 이미징 모드를 갖춘 이 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 어플리케이션을 위한 탁월한 정밀도, 안정성, 유연성을 제공합니다. 나노 스케일 구조 조사, 재료 특성 특성화 또는 원소 분석 수행 여부 (712-4454-00) 는 현미경 기술의 새로운 표준을 설정하는 귀중한 도구입니다.