판매용 중고 ETEC SYSTEM 0754-3800-030W #293751451

ETEC Equipment 0754-3800-030W는 나노 스케일 수준에서 재료의 고급 이미징 및 분석을 위해 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기는 최첨단 기술 (최첨단 기술) 과 혁신적인 기능을 결합하여 연구원과 과학자에게 뛰어난 이미징 기능, 샘플의 구조와 구성에 대한 자세한 정보를 제공합니다. 0754-3800-030W의 주요 기능 중 하나는 고해상도 이미징 기능입니다. SEM에는 하부 나노 미터 해상도로 확대 이미지를 생성 할 수있는 고품질 전자 광학 시스템 (Electron Optics System) 이 장착되어 있습니다. 이를 통해 연구원들은 기존의 광학 현미경 (optical microscope) 에서 불가능한 수준에서 샘플의 미세한 세부 사항 및 표면 지형을 관찰 할 수 있습니다. ETEC Unit 0754-3800-030W에는 이미징 중 샘플의 정확한 제어 및 조작이 가능한 다재다능한 표본 단계가 있습니다. 스테이지 (stage) 가 전동화되어 여러 축으로 조정할 수 있으므로 여러 각도와 방향에서 샘플을 검사할 수 있습니다. 이 유연성은 샘플 내에서 복잡한 구조 및 피쳐에 대한 자세한 분석을 수행하는 데 특히 유용합니다. 이미징 기능 외에도, 0754-3800-030W에는 샘플의 화학적 조성을 특성화하기위한 고급 분석 도구가 장착되어 있습니다. SEM은 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 분석을 수행 할 수 있으며, 이는 샘플이 전자로 폭격 될 때 생성 된 특징적인 X- 선 방출에 기초하여 샘플에 존재하는 원소를 식별하고 정량화 할 수 있습니다. 이 기능을 통해 연구원들은 조사 중인 재료의 원소 구성 및 분배에 대한 귀중한 통찰력을 얻을 수 있습니다. 또한 ETEC Machine 0754-3800-030W에는 이미지 처리 및 분석을위한 소프트웨어 도구가 장착되어 있습니다. SEM 은 내장형 이미지 획득 및 처리 소프트웨어로, 사용자가 이미지를 개선하고 조작할 수 있고, 이미지의 정량적 데이터를 추출할 수 있게 해 줍니다 (영문). 이 소프트웨어는 또한 자동 이미지 분석 (automated image analysis) 및 입자 계산 (particle counting) 을 용이하게하여 연구원들이 현미경 데이터에서 의미있는 정보를 쉽게 추출할 수 있습니다. 0754-3800-030W는 사용자 친화력과 사용 편의성을 염두에 두고 설계되었습니다. 이 기기는 직관적인 사용자 인터페이스를 통해 연구원들이 신속하게 실험을 설정하고, 이미징 매개변수를 조정하고, 결과를 분석할 수 있습니다. 또한 SEM 에는 안전 기능, 기기 유지 관리, 시간 경과에 따른 안정적인 성능 보장용 프로토콜이 포함되어 있습니다. 전반적으로, ETEC Tool 0754-3800-030W는 최첨단 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 연구 응용 프로그램에 대한 뛰어난 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 이 SEM은 고해상도 이미징, 고급 분석 도구, 사용자 친화적 설계를 통해 소재의 미세 구조와 속성을 정확하고 정확하게 조사하는 데 유용한 툴입니다 (영문).