판매용 중고 COXEM CX-200TA #293636473
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ID: 293636473
빈티지: 2018
Scanning Electron Microscope (SEM)
SE Resolution: 3.0 nm at 30 kV
Accelerating voltage: 1-30 kV
High vacuum mode
SED Detector
Magnification:
15x - 300,000x
100,000x
Specimen stage:
5-Axis motorized
X: 40 mm
Y: 60 mm
T: 20° to 90°
R: 360°
Z: 5-60 mm
Electron gun:
Pre-centered cartridge
Tungsten
Controls:
Keyboard
Mouse
Image adjustments:
Auto focus
Auto filament
Auto start
Auto brightness and contrast
Features:
Panorama shot
HD Mode
Dual display
Measurement tool
Remote control
Options:
EDS
BSED
Low vacuum
Cool stage
2018 vintage.
COXEM CX-200TA는 다양한 결합 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 및 전송 전자 현미경 (TEM) 입니다. 고급 이미징, 분석, 작동 모드뿐만 아니라 서브미크론 해상도 이미징 (Submicron Resolution Imaging) 도 가능합니다. CX-200TA 는 기존의 SEM 작업과 BSE (Backscattered Electron) 검출기를 모두 제공하며, 다양한 재료와 애플리케이션에 이상적인 선택입니다. COXEM CX-200TA는 최대 해상도가 0.5nm로 낮아 샘플의 고해상도 이미징을 허용합니다. SEM 모드에서 사용할 수 있도록 크롬 코팅 텅스텐 필라멘트가 장착되어 있으며, 고해상도 이미징을 위해 FEG (Field Emission Gun) 와 함께 작업할 수 있습니다. 또한 4096 x 1024 픽셀 어레이가 장착 된 ProScal 3X2k-A 고해상도 검출기를 포함하여 밝고 어두운 필드 이미징을 모두 사용할 수 있습니다. CX-200TA는 또한 패러데이 컵, 저전압 드리프트 검출기, 알루미늄/탄소 진공 잠금 장치 (aluminum/carbon vacuum lock) 와 같은 다양한 액세서리를 갖추고 있으므로 다양한 샘플과 호환됩니다. 효율적인 FEG-PEG 정렬 시스템을 통해 X, Y 및 Z 방향으로 플랫폼을 이동하여 샘플의 위치를 조정할 수 있습니다. COXEM CX-200TA는 또한 TEM 모드를 사용하여 고해상도 이미징을위한 입구 슬릿을 제어하기위한 지능형 시스템을 갖추고 있습니다. CX-200TA 는 강력하고 다양한 SEM 및 TEM 으로, 다양한 자료와 애플리케이션에 적합합니다. 또한 다양한 고해상도 이미징 모드를 비롯하여 0.5nm (0.5nm) 까지 이미지 작업을 수행할 수 있습니다. COXEM CX-200TA 는 다양한 액세서리 및 운영 모드 (operating mode) 를 갖추고 있어 다양한 샘플 유형과 애플리케이션에 적합합니다.
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