판매용 중고 CIQTEK DB550 #293820900

ID: 293820900
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Ion optical system Current: 1pA - 65nA Voltage: 500V - 30kV Electron-optical system Current: 1pA - 20nA Voltage: 320V - 30kV Vacuum system Sample chamber Sample stage Detector Image display.
CIQTEK DB550은 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 으로, 고급 이미징 기능, 인체 공학 디자인 및 직관적인 사용자 인터페이스로 두드러집니다. 이 최첨단 기기는 고해상도 이미지 (high-resolution image) 와 뛰어난 성능과 효율성을 지닌 다양한 샘플에 대한 상세한 분석 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 이 SEM은 나노 스케일 (Nanoscale) 구조와 표면 특성을 정확하고 정확하게 조사하려는 연구실, 학술 기관, 산업 시설에 이상적입니다. DB550의 중심에는 고급 전자 광학 시스템 (고광도 전자원, 정교한 전자 광학 기둥, 정밀 중심 전자 빔 포함) 이 있습니다. 전자원은 밝기와 안정성이 뛰어난 고도로 일관성 있는 전자빔을 생성하여 현미경으로 나노 미터 (nanometer) 스케일에서 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 달성 할 수 있습니다. 전자 광학 기둥은 최소 빔 스프레드 (beam spread) 와 높은 신호 대 노이즈 비율 (signal-to-noise ratio) 로 뛰어난 이미징 성능에 최적화되어 샘플의 선명하고 상세한 이미지를 제공합니다. CIQTEK DB550은 다양한 이미징 요구와 샘플 유형을 수용하기 위해 다양한 검출기 (detector) 와 이미징 모드를 갖추고 있습니다. 현미경에는 표면 지형 및 조성의 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을위한 대면적 2 차 전자 검출기와 원소 분석 및 재료 대비 이미징을위한 역산 전자 검출기가 장착되어 있습니다. 또한, SEM은 샘플에서 화학 성분의 정량 적 원소 분석 및 매핑을 위해 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 을 제공합니다. DB550 의 핵심 강점 중 하나는 인체공학적 설계 (ergonomic design) 와 사용자 친화적 인터페이스 (user-friendly interface) 인데, 이 인터페이스는 연구자와 운영자의 이미징 및 분석 워크플로우를 간소화합니다. 이 현미경에는 모터 스테이지 컨트롤 (Motorized Stage Control), 자동 이미지 획득 소프트웨어 (Automated Image Acquisition Software) 및 직관적인 데이터 분석 툴이 장착되어 있어 쉽게 샘플을 탐색하고 탐색할 수 있습니다. 사용자 인터페이스 (User Interface) 는 원활한 작동을 위해 설계되었으며, 이미징 매개변수를 조정하고, 이미지를 캡처하며, 최소한의 교육과 전문 지식으로 분석을 수행할 수 있습니다. 성능면에서 CIQTEK DB550 은 이미지 처리 속도, 해상도, 분석 기능 면에서 우수합니다. 이 현미경은 빠른 이미징 (Imaging) 과 스캐닝 속도 (Scanning Speed) 를 제공하여 데이터 수집 및 처리량이 높은 대규모 샘플 영역 분석을 효율적으로 수행할 수 있습니다. 또한 SEM은 미세한 표면 세부 사항 및 나노 구조화 된 재료를 이미징 할 수있는 하부 나노 미터 해상도 (sub-nanometer resolution) 기능을 갖춘 뛰어난 해상도 및 이미지 품질을 자랑합니다. 또한, EDS 및 원소 매핑 (elemental mapping) 을 포함한 기기의 분석 능력은 샘플의 화학 조성 및 재료 특성에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. 전반적으로 DB550 은 강력하고 다용도 스캐닝 (scanning) 방식의 전자 현미경으로, 고급 이미징 기술, 인체 공학적 설계, 사용자 친화적 인터페이스를 결합하여 광범위한 애플리케이션에 뛰어난 성능과 결과를 제공합니다. 나노 스케일 (Nanoscale) 구조를 연구하고, 재료 특성을 특성화하거나, 원소 분석을 수행하더라도, 이 SEM은 연구자와 운영자에게 비교할 수없는 디테일과 정확도를 가진 샘플의 정확한 이미징 및 분석을위한 포괄적 인 솔루션을 제공합니다.
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