판매용 중고 CAMBRIDGE EBMF 10.5 #293641894

CAMBRIDGE EBMF 10.5
ID: 293641894
Electron beam writing system.
CAMBRIDGE EBMF 10.5는 10.5kV ~ 30kV에서 샘플의 비파괴 테스트, 이미징 및 분석을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 콜드 페그 (cold FEG) 열이 특징이며, 1/0 미만의 반각 및 최대 10 개의 다른 샘플 스테이지가 포함 된 샘플 스테이지가 있습니다. 캠브리지 EBMF 10.5 (CAMBRIDGE EBMF 10.5) 는 샘플에서 일정한 수준의 전자 방사선을 유지할 수있는 자동 강도 제어 시스템을 가지고 있습니다. 이미징 중 표면 손상을 최소화하고 샘플 드리프트를 최소화하도록 제작되었습니다. 8 "x 8" TEM 시야로, 특수 렌즈를 추가하여 확장 할 수있는 확대 범위는 최대 100,000X입니다. 냉장 방출 총 (cold field emission gun) 으로 구성된 전자원은 1µm 미만의 집중된 반점 크기를 생성 할 수 있으며, 10.5 ~ 30kV 사이의 전위를 가속화하는 데 작동 할 수 있습니다. SEM은 16 비트 회색 음영 해상도를 사용하여 샘플의 최대 4096x4096 해상도 이미지를 저장할 수 있으며, 이미징 시 비디오를 실시간으로 생성할 수 있습니다. 또한 e-빔 스위칭 그리드 시스템 (e-beam switched grid system) 이 장착되어 여러 영역을 선명하게 대조 할 수 있도록 향상된 이미지를 제공합니다. 캠브리지 EBMF 10.5 (CAMBRIDGE EBMF 10.5) 는 모듈식 및 사용자 친화적 인 디자인으로 설계되었으며, 샘플 챔버 (sample chamber) 와 작업 테이블 (work table) 을 분리하여 열과 진동을 개선하고 현미경을 조작 할 때 더 쉬운 작동성을 제공합니다. 내장형 안전 (Safety) 기능과 지능형 샘플 처리 기능을 갖춘 이 시스템은 섬세한 샘플의 손상을 방지하며, 사용하기 쉽고 유지 관리가 용이합니다. 이미징 기능 외에도, 다양한 재료 조성을 위해 비파괴 분석 (non-destructive analysis) 및 자동 진공 측정 (automated vacuum measurement) 을 수행할 수 있습니다. 고급 이미징 기능, 직관적인 제어 기능, 향상된 안전 기능을 갖춘 CAMBRIDGE EBMF 10.5 는 이미지 처리 (imaging) 및 분석 (analysis) 애플리케이션뿐만 아니라 무중단 테스트에도 이상적인 툴입니다.
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