판매용 중고 AMRAY 3200C #293659826

AMRAY 3200C (Scanning Electron Microscope) 는 최신 기능을 갖춘 SEM (Scanning Electron Microscope) 으로, 연구 및 개발에 이상적인 도구입니다. 다양한 샘플 유형에 대한 고해상도, 고배율 분석 이미지, 3 차원 이미지 분석을 얻을 수 있습니다. SEM은 반도체 고장 분석에서 세라믹 특성, 수용성 부식에 이르기까지 다양한 과학 및 산업 응용 분야를 위해 설계되었습니다. 3200C의 주요 구성 요소에는 샘플 준비 챔버, 메인 챔버, 개너, 검출기 및 이미지 처리 시스템이 포함됩니다. 메인 챔버에는 빔을 생성하기위한 전자 광학 장치, 이미지 수집을위한 검출기 어셈블리 (detector assembly) 및 샘플 스테이징 및 정렬 단계 (stage for sample staging and alignment) 가 있습니다. "개너리 '에는 전자 광선 을 정확 하게 초점 을 맞추고 구동 하기 위한" 렌즈' 계 와 기계 부품 이 들어 있다. 검출기 어셈블리는 빠른 이미지 획득 시간과 높은 해상도의 결과를 제공합니다. AMRAY 3200C에는 가변 빔 전류, 선택 가능한 전압, 디지털 기울기 제어, 정밀 포지셔닝, 다중 이미지 획득 모드 등 다양한 기능이 포함되어 있습니다. 빔 전류는 1mA에서 40mA로 조절 가능한 반면, 전압은 최대 30kV까지 조정할 수 있습니다. 기울기 제어 설정은 컴퓨터로 제어되며, 초점과 배율을 정확하게 정렬할 수 있습니다. 스테이지의 정확한 위치를 지정하면 반복 가능한 결과를 얻을 수 있습니다. 다중 이미지 획득 모드에는 표준, 고해상도 및 초고해상도가 포함됩니다. 3200C에는 3 차원 표면 영상을 가능하게하는 BSE (Back Scattered Electron) 이미징과 같은 고급 이미징 기술도 포함되어 있습니다. BSE 이미징 기술 (BSE Imaging Technique) 은 더 넓은 심도 (Depth of Field) 를 사용하여 다양한 속성을 가진 재료에 대해 뛰어난 대조를 이루는 고품질 이미지를 생성합니다. 이미지 처리 시스템에는 자동화된 피쳐 인식 알고리즘 (automated feature recognition algorithm) 이 포함되어 있어 재료의 패턴 분석을 자동화할 수 있습니다. AMRAY 3200C는 고급 차세대 주사 전자 현미경입니다. 고해상도 및 확대/축소, 고급 이미징 기술, 자동 이미지 분석 (Automated Image Analysis) 등 다양한 고급 이미징 기능을 제공합니다. 다양한 기능과 기능을 갖춘 3200C 는 다양한 연구 개발 (R&D) 애플리케이션에 적합합니다.