판매용 중고 AMBIOS Scanning Probe Microscope #293814054

AMBIOS Spanning Probe Microscope (SPM) 는 고해상도 표면 이미징 및 나노 스케일 수준의 특성화에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 계열에 속하는 최첨단 기기입니다. 이 고급 도구는 STM (Scanning Tunneling Microscopy) 과 AFM (Atomic Force Microscopy) 기술의 조합에 의존하여 기존 SEM에 비해 뛰어난 화질 및 해상도를 달성합니다. AMBIOS SPM은 재료 과학, 나노 기술, 생물학, 반도체 연구 등 다양한 분야에서 과학계의 다양한 요구를 충족시키기 위해 정확하고 다재다능하게 설계되었습니다. AMBIOS SPM (AMBIOS SPM) 의 주요 기능에는 유연한 캔틸레버 (cantilever) 에 장착 된 날카로운 프로브 팁이 포함되어 있으며, 이는 샘플 서피스와 상호 작용하여 표면 지형, 재료 구성 및 자기 특성에 대한 정보를 수집합니다. Probe 팁은 체계적인 방법으로 샘플 서피스에 걸쳐 스캔되어 3D 이미지를 매우 자세하고 정확하게 생성합니다. 또한 Contact Mode, Tapping Mode, Non-Contact Mode 등과 같은 다양한 운영 모드를 제공하여 사용자가 해당 샘플의 특정 요구 사항에 따라 이미징 매개변수를 사용자 정의할 수 있습니다. AMBIOS SPM (Advanced Imaging Software: AMBIOS SPM) 에는 표면 기능을 실시간으로 시각화하고 정량적 측정을 위한 데이터 분석을 용이하게 하는 고급 이미징 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 이 소프트웨어는 이미지 처리, 서피스 황삭 분석 (surface roughness analysis) 및 거리 측정을위한 도구를 제공하여 연구원들이 캡처한 이미지에서 귀중한 정보를 추출할 수 있습니다. 또한이 기기는 SCM (Scanning Capacitance Microscopy), SKPM (Scanning Kelvin Probe Microscopy) 및 SThM (Scanning Thermal Microscopy) 과 같은 다양한 분광 기술을 수행하는 기능을 제공합니다. 샘플. AMBIOS SPM (AMBIOS SPM) 의 두드러진 요소 중 하나는 높은 공간 해상도이며, 원자 수준까지 도달하여 연구자들은 비교할 수없는 디테일로 표면 구조를 연구 할 수 있습니다. 이 기기는 나노 미터 (nanometer) 해상도를 제공하여 나노 스케일 현상을 조사하고 나노 구조를 정밀하게 분석하는 데 이상적인 선택입니다. 또한 AMBIOS SPM은 EDS (energy-dispersive X-ray spectroscopy), SEI (secondary electron imaging) 및 CL (cathodoluminescence) 과 같은 다른 분석 기술과의 손쉬운 통합을 위해 설계되어 포괄적 인 샘플 특성화 기능을 향상시킵니다. AMBIOS SPM은 이미징 기능 외에도 온도, 습도, 가스 구성 등 통제 된 환경 조건에서 현장 실험을 수행하는 기능을 갖추고 있습니다. 이 기능을 통해 연구자들은 샘플 표면의 동적 프로세스 (dynamic process) 를 실시간으로 연구하고 외부 자극이 재료 특성에 미치는 영향을 조사 할 수 있습니다. 이 기기는 UHV (Ultra-High Vacuum) 환경 또는 가스 대기에서 작동 할 수 있으며, 광범위한 연구 응용 프로그램에 유연성을 제공합니다. 전반적으로 스캐닝 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope) 은 고해상도 표면 이미징 및 분석을위한 최첨단 도구를 나타내며 나노 기술, 재료 과학 및 관련 분야의 과학 연구에 탁월한 성능, 다양성 및 신뢰성을 제공합니다. AMBIOS SPM은 고급 기능, 초고해상도 (ultra-high resolution) 및 고유 한 기능을 통해 전자 현미경 스캔을위한 새로운 표준을 설정하고 전례없는 디테일과 정확성으로 나노 월드를 탐험 할 수있는 새로운 기회를 열어줍니다.