판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS Opal 7830 #9238602

AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 광범위한 재료의 내부 구조에 대한 상세한 3 차원 이미지를 제공하는 데 사용되는 강력하고 다양한 분석 도구입니다. 다양한 재료와 프로세스를 분석하고 특성화하기 위한 탁월한 기능을 제공합니다 (영문). SEM에는 고빔 전류와 최소 열 확산을 제공하는 통합 단색 전계 방출 전자 총 (FEG) 이 포함되어 있으며, 최저전자 빔 가속 전압에서 최고 해상도의 이미징을 허용합니다. 가변 스팟 크기의 경우, 7830 SEM은 가변 깊이 필드, 가변 해상도 및 가변 샘플 서피스 커버리지를 제공합니다. 또한 빔 콘덴서 수차를 수정하기 위해 스티그메이터가 장착되어 비슷한 SEM 시스템과 분리되어 있습니다. 이 장치에는 일체형 전자 총이 장착되어 있어, 밝기와 각도 안정성이 뛰어납니다. 따라서 이미지 해상도가 매우 높으며, 긴 EIG 수명을 활용하여 사용자는 99초의 긴 스캔 시간을 기록하여 ESD (Concurrent ESD) 신호를 생성할 수 있습니다. 특별히 설계된 이중 광학 디자인으로 7830은 전통적인 SEM (Scanning Electron Microscopes) 과 훨씬 더 높은 명암과 선명도를 가진 이미지를 생성합니다. 7830 SEM은 6.0kV에서 0.5nm (0.5nm) 의 공간 해상도를 달성할 수 있어 초고성능을 원하는 어플리케이션에 적합합니다. 자동화된 시편전달시스템 (Simimen Transfer System) 을 통해 사용자는 표본을 빠르게 변경하고 워크플로를 최적화할 수 있습니다. 첨단 EIG 기술로 인해 7830 (7830) 은 수명이 길며, 기기의 다양한 기능에 대한 전동식 제어 범위 (Motorized Control Range) 는 간단하고 사용하기 쉽습니다. 반도체 물질의 오염을 감지하기 위해 불순물 분석을 수행하는 데 7830 을 활용 할 수도 있습니다. 입자를 감지하고 크기가 0.1äm까지 결함이 있으며 에너지 분산 x- 선 분광법 (EDS) 과 분석 스캐닝 (AS) 을 모두 수행 할 수 있습니다. 7830 은 다양한 업종의 고급 연구/엔지니어링 (Advanced Research and Engineering) 을 지원하는 다양한 툴을 갖추고 있습니다. 이러한 도구에는 고급 이미지 수집 시스템, 실시간 이미지 분석, 3D 이미지 재구성, 이미지 정량화, 보고서 작성 자동화 등이 포함됩니다. AMAT Opal 7830 SEM은 다용도 및 탁월한 성능을 최대한의 SEM (최강의 SEM) 을 추구하는 사람들에게 이상적인 선택입니다. 업계 최고의 유연성 (Flexibility) 및 기술 기능을 통해 광범위한 자료 연구/분석 애플리케이션을 위한 최적의 선택이 될 수 있습니다.