판매용 중고 STANFORD RESEARCH SYSTEMS / SRS QMS 200 #293748990

SRS (STANFORD RESEARCH SYSTEMS) 에서 제조 한 STANFORD RESEARCH SYSTEMS/SRS QMS 200 잔류 가스 분석기는 진공 시스템에서 가스 조성을 정확하고 정확하게 모니터링하도록 설계된 고성능 기기입니다. 이 고급 잔류 가스 분석기 (Advanced Residual Gas Analyzer) 에는 최첨단 기술이 적용되어 잔류 가스 수준을 안정적이고 민감하게 측정할 수 있으며, 광범위한 연구 및 산업 응용에 이상적입니다. 주요 특징: SRS QMS 200은 질량 범위가 1 ~ 200 amu 인 4 중 질량 분광계를 특징으로하며, 높은 해상도와 감도를 가진 다양한 가스 종을 감지 할 수 있습니다. 이 기기는 탐지 한도가 10 억 (ppb) 인 가스 샘플을 분석 할 수 있으므로 진공 시스템에서 미량 가스를 탐지하기에 적합합니다. 스탠포드 리서치 시스템 (STANFORD RESEARCH SYSTEMS) QMS 200에는 넓은 동적 범위를 가진 고성능 전자 승수 검출기가 장착되어 있어 ppb에서 100% 사이의 가스 농도를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이 검출기는 뛰어난 감도와 신호 대 잡음 비율을 제공하여 정확하고 안정적인 측정 결과를 제공합니다. 직관적이고 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스 (Software Interface) 를 통해 악기를 제어하여 쉽게 작동하고 데이터를 분석할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 가스 구성, 대량 보정 자동 조정, 데이터 로깅 (Data Logging) 기능을 실시간으로 모니터링하여 측정 데이터를 손쉽게 검색하고 분석할 수 있습니다. QMS 200 (QMS 200) 은 다양한 샘플 도입 방법을 수용할 수 있는 여러 개의 입구 (inlet) 옵션을 통해 다용도 및 유연한 작동을 위해 설계되었습니다. 이 기기는 전자 충격 (electron impact) 과 화학 이온화 (ionization) 를 포함한 다양한 이온화 소스로 구성하여 다른 응용 프로그램의 특정 요구 사항을 충족시킬 수 있습니다. 응용프로그램: STANFORD RESEARCH SYSTEMS/SRS QMS 200 잔류 가스 분석기는 진공 공정 모니터링, 누출 감지, 가스 과잉 분석, 오염 제어 등 다양한 애플리케이션에 대한 연구 및 산업 환경에서 널리 사용됩니다. 이 기기는 일반적으로 반도체 제조, 박막 증착, 표면 과학 및 기타 진공 관련 프로세스에 사용됩니다. 반도체 제조에서, SRS QMS 200은 진공 챔버의 가스 불순물을 모니터링하기 위해 사용되어 전자 장치의 품질과 신뢰성을 보장합니다. 이 기기는 장치 장애를 일으키거나 성능에 영향을 줄 수 있는 오염 물질 (contaminant) 의 추적 수준을 감지하여 프로세스 제어 및 제품 품질 향상 (product quality) 에 기여할 수 있습니다. 박막 증착 과정에서 스탠포드 리서치 시스템 (STANFORD RESEARCH SYSTEMS) QMS 200은 필름 성장 중 가스 구성을 모니터링하여 증착 매개변수를 최적화하고 균일 한 필름 특성을 보장하기 위해 사용됩니다. 이 기기는 또한 누출 감지 (Leak Detection) 에 사용되어 진공 시스템의 누수를 식별하고 찾을 수 있으며, 오염을 방지하고 시스템 무결성을 유지할 수 있습니다. 결론: 전반적으로, QMS 200 잔류 가스 분석기는 진공 시스템에서 가스 구성을 정확하고 정확하게 모니터링하기위한 정교하고 신뢰할 수있는 도구입니다. 스탠포드 리서치 시스템 (STANFORD RESEARCH SYSTEMS/SRS QMS 200) 은 고급 기능, 고감도, 다용도 작동을 통해 잔류 가스의 정확한 측정이 중요한 광범위한 연구 및 산업 애플리케이션에 적합합니다. 사용자 친화적 인 인터페이스와 유연한 구성 옵션을 통해 연구원, 엔지니어, 기술자들이 진공 (vacuum) 관련 프로세스를 수행하는 데 유용한 툴이 됩니다.