판매용 중고 WENTWORTH MP-901 #53374

WENTWORTH MP-901은 반도체 구성 요소, MEMS 및 기타 실리콘 기반 구조를 측정하는 데 사용되는 완전 자동 전기 커패시턴스 프로버입니다. 이 프로버는 최대 200mm 크기의 구성 요소를 측정 할 수 있으며, 범위는 0.1 mm ~ 10mm입니다. 연산자의 개입을 최소화하면서 빠르고, 정확하며, 반복 가능한 측정값을 생성합니다. MP-901은 독보적인 유연성 설계를 통해 높은 반복성과 높은 정확성을 보장합니다. 5 축 이동 범위와 최대 스캔/프로브 범위가 400mm 인 이중 축 스캔 시스템을 사용합니다. 이를 통해 다양한 구성 요소를 테스트할 때 빠르고 정확하게 측정할 수 있습니다. WENTWORTH MP-901은 수동, 접촉력, 커패시턴스, 인덕턴스 및 전자 레인지 기술을 포함한 다양한 프로빙 기술과 호환됩니다. 또한 패라메트릭 테스트와 함께 전압, 전류 및 컴포넌트 스캔을 지원합니다. MP-901은 시간당 최대 100 개의 구성 요소를 측정 할 수 있으며, 최대 섭씨 50 ° 의 온도에서 작동합니다. 그것은 작은 발자국을 가지고 있으며, 실험실의 비좁은 공간에 들어갈 수 있습니다. 기본 제공되는 교정은 환경에 미치는 영향을 보완하고 최적의 정확성을 보장합니다. 이 검사는 안전을 염두에두고 설계되었으며, RF 침입 및 오염을 최소화하기 위해 별도의 제어 캐비닛 (control cabine) 과 격리실 (isolation chamber) 을 가지고 있습니다. Prober에는 모든 작업을 제어 할 수있는 터치 스크린 디스플레이가 있습니다. 테스트 조건과 컴포넌트 위치 (component location) 를 포함한 모든 매개변수를 정제하고 저장하여 나중에 테스트할 수 있습니다. 전문 분석 소프트웨어를 지원하며 실험실 계측 연결을 위해 4 개의 포트가 있습니다. 이와 같이 하드웨어를 포괄적으로 지원하므로 품질 보증 (Quality Assurance) 및 거의 모든 칩 또는 컴포넌트에 대한 생산 테스트 (Production Testing) 를 비롯한 다양한 애플리케이션에서 사용할 수 있습니다. 전반적으로 WENTWORTH MP-901은 반도체 칩, MEMS 및 기타 실리콘 기반 장치를 빠르고 정확하게 측정하기위한 다재다능하고 고성능 전문가입니다. 다양한 고급 기능 (Advanced Features) 과 기능을 갖추고 있으며, 높은 온도와 작은 공간 내에서 작동할 수 있습니다. MP-901 은 테스트 품질을 크게 향상시킬 수 있으며, 결과의 불일치를 근절하도록 설계되었습니다.