판매용 중고 WENTWORTH CMP-100 #114331

WENTWORTH CMP-100
제조사
WENTWORTH
모델
CMP-100
ID: 114331
probe card test station.
WENTWORTH CMP-100은 실리콘 집적 회로 장치의 테스트 및 조사를 위해 설계된 Prober입니다. 이 도구는 고급 반도체 장치의 테스트 및 프로브에 low-k 유전체, 결합 알루미늄, C4 및 BGA 솔더 볼을 사용합니다. CMP-100 (CMP-100) 은 고급 기술의 조합을 사용하여 각 프로브의 이동을 정확하게 제어하고 테스트 중인 장치에 필요한 전압 (voltage) 과 전류 (current) 수준을 정확하게 적용합니다. WENTWORTH CMP-100에는 신호 추적성, 신호 분기 및 장치 이미징에 관한 다양한 이점을 제공하는 독특하고 정확도가 높은 LKD (Low-k Dielectric) 재료가 장착되어 있습니다. 이 재료는 지속적으로 증가하는 집적 회로 설계 (integrated circuit design) 의 복잡성을 해결하기 위해 개발되었으며 신호 신호 추적 및 전파에서 더 높은 정확성을 허용합니다. 또한, LKD 재료는 다른 프로버보다 더 정확한 신호 분기 및 장치 이미징 결과를 생성합니다. 이 프로버는 또한 최대 2.5 미크론의 정확도로 BGA 솔더 볼 피치가 다른 장치를 조사 할 수 있습니다. CMP-100 의 높은 정확도 및 교정 (calibration) 기능을 통해 가장 정확한 Probe 포지셔닝이 가능하므로 가장 정확한 테스트 결과가 가능합니다. WENTWORTH CMP-100은 또한 고급 C4 기술 (Advanced C4 technology) 을 통해 다중 계층/복합 구성 요소의 빠른 효율적 전기 프로브 및 위치 도달이 빠르고 효율적인 알루미늄 기술을 제공합니다. CMP-100은 정확성과 정확성 외에도, 테스트 대상 장치의 손상을 방지하는 다양한 안전 기능 (예: 과잉 보호 회로) 을 갖추고 있습니다. 또한 WENTWORTH CMP-100에는 사용자 친화적 인 인터페이스, 견고하고 확장 가능한 테스트 시스템 등 다양한 사용자 친화적 인 기능도 있습니다. 이러한 기능을 통해 CMP-100 은 고급 디바이스의 테스트 및 Probe 테스트에 유용한 툴이 됩니다.
아직 리뷰가 없습니다