판매용 중고 WENTWORTH 900 #9096475
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ID: 9096475
Analytical probe station, up to 4"
Zoom: 80-160X & 250-500X
Vacuum chuck: 4"
Probe card holder
Digital video camera and monitor.
WENTWORTH 900 Prober는 반도체 제조업체 및 생산 엔지니어의 요구를 충족시키기 위해 설계된 완전 자동화, 고정밀 웨이퍼 측정 및 검사 장비입니다. 900 Prober는 복잡한 웨이퍼 토폴로지를 측정하고 제품 설계에 대한 피드백을 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 고해상도와 정확성으로 칩 레벨 설계를 분석할 수 있습니다 (영문). WENTWORTH 900 Prober는 이동 가능한 외부 수동 헤드와 완전한 전동 내부 하드웨어로 구성된 DSP (Digital Signal Processing) 제어 장치입니다. 프로브 헤드는 정지된 위치에서 평면의 임의의 지점으로 이동 할 수 있으며, X 방향과 Y 방향 모두에서 1/4 미크론 스텝 해상도를 갖습니다. 다중 축 정렬 머신 (multi-axis alignment machine) 을 사용하면 전체 치수 정밀도로 웨이퍼 토폴로지를 처리할 수 있습니다. 프로브 헤드 (Probe Head) 에는 칩을 측정 할 때 정확한 위치를 쉽게 할 수 있도록 인체 공학적으로 설계된 슬라이드 그래프도 장착되어 있습니다. 유연하고, 강력하고, 정확하게도, 900 Prober의 머리는 최대 30cm의 다이 크기를 측정 할 수 있습니다. 또한 디지털 이미지 프로세서 (digital image processor) 를 사용하면 다이 레벨 측정을 수집하기 전에 에셋이 다이 경계를 정확하게 파악할 수 있습니다. WENTWORTH 900 Prober에는 X, Y 및 Z의 3 가지 축으로 동작 시퀀스를 정확하게 제어 할 수있는 고급 컴퓨터 기반 모션 모델이 있습니다. 서보 모터를 사용하면 스캐닝 작업을 더 정밀하고 빠르게 수행 할 수 있습니다. 이 장비는 사용자 친화적인 소프트웨어 기반 인터페이스 (Software-Driven Interface) 를 통해 정확하고 정확한 측정을 위해 빠르고 쉽게 조사할 수 있습니다. 이 "소프트웨어 '는 또한 사용자 친화적 인 것 으로 설계 되었으며, 여러 가지" 웨이퍼' 측정 기능 을 허용 하도록 "프로그램 '되었다. 사용자는 현미경, 크기, 패스/장애 칩 분석, 웨이퍼 ID 및 위치 측정, 경계 인식, 칩 스캔 속도 제어, 데이터 저장, 보고 등 다양한 기능 중에서 선택할 수 있습니다. 900 Prober는 컴퓨터 기반 모션 시스템 및 사용자 친화적 인 소프트웨어를 사용하여 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 중 수동 작동을 최소화하도록 설계되었습니다. 수작업 (manual operation) 을 최소화하고 정확하고 정확한 측정을 보장함으로써, 이 장치는 더 높은 품질의 제품 설계와 안정적인 웨이퍼를 보장합니다.
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