판매용 중고 TOKYO SEIMITSU A-PM-90A-N #293742994

TOKYO SEIMITSU A-PM-90A-N은 고정밀 반도체 테스트 응용 프로그램을 위해 설계된 고급 웨이퍼 프로버 시스템입니다. 이 Prober는 최첨단 기술과 사용자 친화적 인 인터페이스를 결합하여 안정적이고 정확한 웨이퍼 프로브 성능을 제공합니다. A-PM-90A-N (A-PM-90A-N) 에는 다양한 기능이 장착되어 있어 연구 환경과 대량 생산 환경 모두에 적합합니다. TOKYO SEIMITSU A-PM-90A-N 프로버의 주요 기능 중 하나는 고속 및 높은 정확도 프로빙 메커니즘입니다. 프로버 (Prober) 에는 웨이퍼 표면에 프로브 바늘을 정확하게 배치 할 수있는 고급 동작 제어 시스템 (Advanced Motion Control System) 이 장착되어 있습니다. 이를 통해 프로버 (Prober) 는 웨이퍼 (Wafer) 의 장치의 전기 특성을 높은 반복성으로 정확하게 측정 할 수 있습니다. A-PM-90A-N 프로버는 소형 반도체 웨이퍼에서 대형 유리 기판까지 다양한 크기의 웨이퍼를 조사 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 다양한 웨이퍼 크기와 모양을 수용 할 수있는 전동식 척 (Motorized chuck) 테이블이 장착되어 있어 다양한 응용 분야에 다재다능합니다. 척 (chuck) 테이블은 측정의 정확도에 영향을 줄 수있는 잘못된 정렬 또는 움직임을 방지하기 위해 프로브 프로세스 (Probe Process) 동안 웨이퍼를 안전하게 고정하도록 설계되었습니다. TOKYO SEIMITSU A-PM-90A-N 프로버에는 프로브 바늘 (Probe Needle) 과 웨이퍼 (Wafer) 의 장치를 정확하게 정렬하는 고급 정렬 시스템도 장착되어 있습니다. 프로버 (Prober) 는 비전 시스템 (Vision System) 과 정렬 알고리즘을 사용하여 웨이퍼 (Wafer) 의 테스트 패드에 따라 자동으로 프로브를 정렬하여 수동 정렬의 필요성을 줄이고 테스트 프로세스의 전체 처리량을 증가시킵니다. A-PM-90A-N prober는 또한 포괄적인 소프트웨어 인터페이스를 통해 사용자가 테스트 시퀀스를 쉽게 설정하고, Probing 매개변수를 정의하고, 테스트 프로세스를 실시간으로 모니터링할 수 있습니다. 직관적이고 사용자 친화적인 소프트웨어 인터페이스 (Software Interface) 를 통해 숙련된 사용자와 초보자 사용자가 모두 효율적으로 Prober를 작동할 수 있습니다. 이 Prober는 업계 표준 테스트 자동화 소프트웨어와 호환되므로 기존 테스트 워크플로우에 원활하게 통합할 수 있습니다 (영문). TOKYO SEIMITSU A-PM-90A-N 프로버의 또 다른 주요 특징은 견고한 구성과 높은 신뢰성입니다. 이 프로버 (Prober) 는 반도체 테스트 환경의 엄격함을 견디도록 설계된 고품질 재료와 컴포넌트로 제작되었습니다. 프로버 (Prober) 의 부품은 내구성과 장수에 대해 신중하게 선택되고 테스트되어, 프로버 (Prober) 가 확장 사용 기간 동안 일관된 성능을 제공 할 수 있도록 합니다. 전반적으로, A-PM-90A-N prober는 다재다능하고 신뢰할 수있는 웨이퍼 프로브 시스템으로, 광범위한 반도체 응용 프로그램에 대한 고정밀 테스트 기능을 제공합니다. 고급 기능, 사용자 친화적 인 인터페이스 (user-friendly interface), 견고한 구조로 인해 정확하고 안정적인 웨이퍼 조사 결과를 얻기 위해 반도체 제조업체, 연구 실험실 및 테스트 시설에 이상적인 선택이되었습니다.