판매용 중고 TERADYNE Javelin ESI-1004 #9239692

TERADYNE Javelin ESI-1004 Prober는 반도체 산업의 신뢰성 분석 및 장애 분석을 위해 설계된 고급 테스트 플랫폼입니다. 생산 단계에서 연구 개발 단계 (Research and Development Phase) 에 이르기까지 테스트 프로세스를 자동화 및 간소화하도록 설계되었습니다. 다재다능하고 강력한 기능을 갖춘 자블린 프로버 (Javelin Prober) 는 프로토 타이핑 (prototyping) 에서 제조 (manufacturing) 에 이르기까지 전체 응용 분야에서 반도체 구성 요소를 테스트하기위한 최고의 도구입니다. 창 던지기 프로버 (Javelin Prober) 는 모든 유형의 반도체를 검증하고 특성화하기 위해 속도, 정밀도, 유연성의 뛰어난 조합을 제공합니다. "자벨린 프로버 '의 정밀" 웨이퍼' 처리 장치 는 가장 작은 "마이크로프로세서 '에서 가장 큰" 메모리' 구성 요소 에 이르기 까지 모든 것 을 처리 할 수 있다. 테스트 사양 (Test Specification) 과 거의 일치하는 특수 테스트 신호를 신속하게 생성 또는 수정할 수 있으며, 이를 통해 사용자가 신속하게 문제를 파악하고 새로운 설계를 확인할 수 있습니다. 창 던지기 프로버 (Javelin Prober) 는 또한 고급 프로빙 기술을 갖추고 있으며, 폭이 0.2 ½ m, 크기가 20 mm 인 구성 요소를 테스트할 수 있습니다. 또한 애플리케이션에 따라 n 유형, p 유형, 정적 테스트, 동적 테스트 등 4 가지 유형의 Probe를 허용합니다. 향상된 프로브 헤드로 Javelin Prober의 최대 깊이는 4mm이며 최대 18, 12, 8 인치 크기의 기판을 처리 할 수 있습니다. 광범위한 테스트 범위는 반도체 장치의 다양한 부분을 테스트하는 데 이상적입니다. 자블린 프로버 (Javelin Prober) 에는 고급 프로브 (Probing) 기능 외에도 고급 벤치마킹 및 분석 도구가 장착되어 있어 사용자가 설계의 성능을 향상시킬 수 있습니다. 내장 IC 편집기를 사용하면 제조를 진행하기 전에 문제를 신속하게 파악하고 수정할 수 있습니다. 또한 Javelin Prober의 내장 '자동 테스트 (Auto-Test)' 기능을 사용하면 사용자의 키 입력 (keystroke) 이 몇 개 뿐인 모든 구성 요소를 완벽하게 특성화하여 프로젝트의 테스트 효율성을 향상시킬 수 있습니다. 자블린 프로버 (Javelin Prober) 는 또한 사양 수준 계산에 대한 자동 조정, 응력 및 온도 스트레스 시뮬레이션, 조합 논리 장치 지원과 같은 고급 최적화 기능을 제공합니다. 프로브 헤드 (Probe Head) 의 이중 축 동작 시스템 (Dual-axis motion System) 은 기판이 비스듬히 있을 때에도 모든 테스트가 정확하게 수행되도록 합니다. 요컨대, Javelin ESI-1004 Prober는 업계에서 반도체 장치 신뢰성 및 분석을위한 가장 고급 테스트 플랫폼입니다. 자블린 프로버 (Javelin Prober) 는 고속, 정밀, 유연성, 고급 프로빙 및 분석 기능을 통해 모든 반도체 장치의 성능을 테스트하고 향상시키는 최고의 도구입니다.