판매용 중고 TERADYNE Javelin 1004 / ESI-1004 #9090436

TERADYNE Javelin 1004/ESI-1004 prober는 다양한 반도체 장치를 조사하기위한 자동화된 고성능, 높은 정확도 솔루션입니다. C2C (cassette-to-cassette) 및 S2S (strip-to-strip) 구성에서 최고 15kHz 속도의 고주파수, 강력한 웨이퍼 처리 시스템을 갖추고 있습니다. Javelin 1004/ESI-1004 Prober의 고급 플랫폼은 혁신적인 3D 헤드 포지셔닝 기술을 사용하여 헤드 높이 및 피치 각도를 조정할 수 있으며, 레일 고도 조정과 함께 소형 설치 공간에서 탁월한 정확도를 제공합니다. 이러한 고유한 기능의 조합을 통해 정밀도가 높은 결과를 얻을 수 있으며, 다양한 재료, 너비, 피치를 얻을 수 있습니다. TERADYNE Javelin 1004/ESI-1004 Prober의 다목적 설계를 통해 2 및 3 리드 하이 핀 카운트 장치를 수용 할 수있는 대용량 테스트 셀을 포함하여 광범위한 반도체 장치를 특성화할 수 있습니다. 다양한 어플리케이션별 로케이터 헤드 (locator head) 를 제공하는 사이드 룩 장치 테스터 (side-looking device tester) 도 특수 테스트 어플리케이션에 사용할 수 있습니다. Javelin 1004/ESI-1004 Prober는 Burn-in 및 Wafer 수준 검증을 포함한 높은 케이던스 특성화에 이상적인 솔루션을 제공합니다. 온보드 엔벌로프 보호 프로브 (Integrated Envelope Protect Probe) 시스템을 사용하면 민감한 기판 재료에 대한 손상을 방지하면서 다양한 온도 범위의 장치를 효율적으로 특성화할 수 있습니다. TERADYNE Javelin 1004/ESI-1004 prober는 IC (Integrated Circuit) 제조업체에 적합하며 다양한 IC 장치, 테스트 셀 구성 및 다양한 웨이퍼 크기를 수용할 수있는 내구성, 플러그 앤 플레이 솔루션입니다. 사용이 간편한 자동화 소프트웨어, 컨트롤러 버튼 인터페이스, 고급 정밀 레이저 및 카메라 기반 비전 시스템, 자동 정렬 방법 등을 제공합니다. 이러한 기능의 조합을 통해 사용자는 효율적이고, 오류 없는 특성을 수행할 수 있는 유연성을 얻을 수 있습니다. 요약하면, Javelin 1004/ESI-1004 prober는 고성능 및 고정밀 특성 응용 프로그램에 이상적인 솔루션입니다. 견고한 웨이퍼 처리 시스템, 조절식 헤드 포지셔닝 기술, 대용량 테스트 셀, 다용도 설계, 종합적인 자동화 소프트웨어 (automation software) 를 갖추고 있어 다양한 반도체 장치를 조사하기 위한 포괄적이고 비용 효율적인 선택입니다.