판매용 중고 TELEDYNE Gen3 x8 #9151912

TELEDYNE Gen3 x8은 생산 어플리케이션의 요구를 최적으로 충족하도록 특별히 설계된 고성능 프로버입니다. 최대 테스트 처리량을 위해 정확한 수직 및 기울기 정렬을 제공하는 8 개의 독립적으로 제어되는 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 채널을 제공하는 유일한 프로 버입니다. 또한 8 개의 자동 프로버 샘플 로딩, 8 개의 독립적 인 전기 테스트 채널 및 8 개의 독립적 인 진공 제어 프로버 데크가 포함됩니다. Gen3 x8 prober는 생산 지원을위한 정밀한 고속 웨이퍼 프로브를 제공합니다. 스텝 모터 구동 Z 축 (Step-motor-driven Z-Axis) 은 최대 정확도와 안정성을 제공하며, 조절 가능한 기울기 메커니즘을 통해 프로베카드에 웨이퍼를 양성, 반복 가능한 기울기 정렬을 허용합니다. 자동 샘플 로더를 사용하면 다양한 웨이퍼 (wafer) 크기와 구성을 통해 효율적으로 로드할 수 있습니다. TELEDYNE Gen3 x8 prober는 또한 조정 가능한 스프링 포스를 특징으로하여 웨이퍼와 테스트 장비를 보호합니다. 프로버 (Prober) 의 구성과 웨이퍼 (Wafer) 간의 변화에 따라 다른 스프링 힘을 쉽게 선택할 수 있습니다. 또한, 고급 온도 조절 환경 제어는 테스트 링 오염을 최소화합니다. Gen3 x8 Prober는 또한 정확하고 반복 가능한 접촉력 측정을 제공하여 사용자에게 테스트 프로세스를 더욱 효과적으로 제어합니다. TELEDYNE Gen3 x8 Prober는 또한 고품질 테스트 시스템 보호 기능을 제공합니다. 이중화된 테스트 장치 (Test Unit) 전원 공급 장치를 제공하여 전원 장애 위험을 줄일 수 있으며, 외부 전원 서지 (External Power Surge) 를 방지하는 서지 보호기 (Surge Protector) 가 옵션으로 제공됩니다. 또한 열 관리 캐비닛은 프로버 (prober) 와 해당 컴포넌트 (component) 와 테스트 머신 (test machine) 을 보호합니다. 전반적으로 Gen3 x8 Prober는 생산 레벨 웨이퍼 프로브에 적합한 도구입니다. 탁월한 정확성과 성능, 그리고 다양한 기능을 제공하여 안정적이고 효율적인 Probing을 보장합니다. 즉, 사용자 친화적인 인터페이스, 고급 환경 제어, 신뢰할 수 있는 보호 기능을 통해 모든 운영 Wafer 테스트 요구에 이상적인 솔루션이 될 수 있습니다.