판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON Precio #9243049
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ID: 9243049
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2012
Wafer prober, 12"
Process: 4082 Precio measurement tool
1-Port
SMIF System: Precio single FOUP
Handler system:
NPAF Features: Advanced FTP & remote operation
RFID Controller / Antenna set
AGILENT 4080 Mechanical interface
Options:
STD WAPP (Exchangable plate) With brush
GPID I/F Board with 4 meter cable
Clean SACC / Semi auto card changer
Noise kit (Chuck GND / Kit)
Color Monitor Inspection (CMI)
HM30L Hinge manipulator
Protocol zones: BEOL, MOL, PI
CIM: E84, SECS / GEM, GEM300 (SEMI E87, SEMI E90)
2012 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio는 마이크로 전자 장치의 물리적 및 전기 테스트를 위해 설계된 전문가입니다. 이 제품은 DC/AC 측정, 반바지 찾기/열기, 패키지 및 보드 레벨 제품의 연속성 테스트 (continuity test) 와 같은 프로브, 전기 테스트 수행에 사용됩니다. TEL Precio Prober는 집적 회로 및 기타 전자 부품의 자동 조사를 위해 설계되었습니다. 즉, 빠르고 정밀한 측정값을 제공하며, 한 번의 패스로 여러 사이트를 조사할 수 있습니다. 여러 기판으로 작동하여 바늘 프로브 (needle probe) 와 전기적 측정을 위한 접점 (contact point) 을 정확하게 배치합니다. 프로브는 수동 및 동력의 두 가지 유형으로 제공됩니다. 수동 버전은 더 작고, 더 간단한 Probing 응용 프로그램에 적합하며, 동력 버전은 더 크고, 더 복잡한 응용 프로그램에 적합합니다. TOKYO ELECTRON Precio 프로브는 정확성을 보장하고 프로브의 수명을 연장하는 몇 가지 기능을 가지고 있습니다. 정확한 측정이 가능한 낮은 전압 수준을 가지고 있습니다. 또한 접촉 이동을 줄이고 접촉 바운스를 방지하기위한 조절 가능한 접촉력이 있습니다. 정적 방지 설계 (Anti-static design) 는 프로브 끝 주변의 전기장을 손상시키는 것을 방지하는 데 도움이되며, 이는 측정 정확도에 영향을 줄 수 있습니다. Precio Prober는 다양한 테스트 소프트웨어 (Test Software) 및 시스템과 호환되므로 기존 테스트 시스템과 쉽게 통합할 수 있습니다. 프로브는 또한 새로운 테스트와 다른 테스트에 맞게 업그레이드 및 보정 될 수 있습니다. 이 검사는 고객 요구 사항 (예: 사이트 수 증가, 특수 탐사선 및 Probe 액세서리 지원) 에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON Precio Prober는 물리적 및 전기 테스트를위한 경제적이고 신뢰할 수있는 솔루션입니다. 매우 정확하며, 오류 방지 설계 기능으로 인해 수명 연장을 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 다양한 테스트 시스템과 호환되므로 기존 테스트 시스템을 쉽게 통합할 수 있습니다. 다양한 맞춤형 구성 옵션을 통해 모든 테스트 (testing) 애플리케이션에 이상적인 솔루션을 선택할 수 있습니다.
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