판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON Precio #9232275

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ID: 9232275
빈티지: 2014
Prober Single FOUP wide Linear scale included GPIB I/F Board with 4m cable FLIP SACC: 480mm Auto card changer Z-WAPP With white plate OCR Insight 1721 with VME (Bottom & top) Direct probe kit for V93000 Direct probe shielding parts Combo HP interface kit: 350mm With V93000 Change kit, 12" (2) RFID Controllers / Antenna sets Color monitor inspection (CMI) Noise KIT (Chuck GND / KIT) Signal monitor: 4 Color Auto mapping sensor Network parts TEL H/C System: -55°C to 150°C Air cool mirror II chuck included Chiller C355 300kg Stage Z force upgrade 440 Combo upcharge: HP Capable for 9.5", 12", 17" 2014 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio는 반도체 웨이퍼 테스트 시장의 최신 전문가입니다. 프로버 (Prober) 는 다양한 집적 회로를 포함하는 웨이퍼의 전기 및 구조 특성을 정확하게 측정하도록 설계되었습니다. 이 장비는 공장 및 실험실 설정에서 모두 사용하도록 설계되었습니다. 이 시스템에는 순서 연산, 파형 테스트, 수동 개입 없이 패턴화 (patterning) 를 수행할 수 있는 전자 및 하드웨어 구성 요소가 포함되어 있습니다. 플랫폼은 모든 매개변수를 단일 가공 패스로 측정할 수 있는 고급 (advanced) 알고리즘을 사용합니다. 실시간 이미지 (real-time) 와 순차 이미지 (sequential image) 를 빠른 속도로 캡처하여 장치가 올바르게 측정되도록 합니다. 프로버 (Prober) 는 사용자에게 데이터 분석 및 시각화 기능을 제공하는 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 툴을 갖추고 있습니다. 소프트웨어 기능에는 시뮬레이션 및 설계 도구, 테스트 및 측정 분석, 테스트 자동화, 데이터 로깅 등이 있습니다. 이러한 기능을 통해 엔지니어는 장치 문제를 신속하게 분석, 분석 및 디버그할 수 있습니다. 또한 전원, 온도, 주파수 제어를 위한 다양한 고급 자동 측정 모듈을 갖추고 있습니다. 또한 고급 3D 시각화 (3D Visualization) 기능을 통해 디바이스 구조와 결함을 빠르고 정확하게 매핑할 수 있습니다. TEL Precio는 또한 3D 검사 기능을 스캔 및 테스트 분석과 통합 할 수 있습니다. 이 시스템의 소프트웨어에는 전용 메모리 테스트 및 교정 프로그램과 고해상도 웨이퍼 검사 모듈 (Wafer Inspection Module) 이 포함됩니다. TOKYO ELECTRON PRECIO (TOKYO ELECTRON PRECIO) 는 최신 내장형 장치에서 와퍼 테스트를 위해 안정적이고 신뢰할 수 있는 검사가 필요한 사용자를 위한 신뢰할 수 있는 솔루션입니다. 이 툴의 첨단/종합적인 테스트 프로토콜 (testing protocol and feature) 은 소규모 기업에서 대기업에 이르기까지 모든 규모의 조직에 이상적인 선택입니다.
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