판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293814265

TEL은 집적 회로 및 하위 어셈블리 테스트를 위해 설계된 반도체 프로버입니다. 프로버 (Prober) 는 초고밀도 프로빙 기능과 높은 처리량 성능을 제공하도록 설계된 고성능 정전기, 기계식 척 (chuck) 및 프로브 팁 (Probe Tip) 으로 구성됩니다. 프로버 (Prober) 는 또한 생산성을 극대화하고 정확한 프로브 작업을 위해 설계된 다양한 동적 기능을 갖추고 있습니다. 내장된 조정 가능한 해상도 (Resolutable Resolution) 및 보간 (Interpolation) 기능은 사용자가 필요에 따라 Probe 속도를 조정할 수 있는 유연성을 제공합니다. 프로버의 동적 압력 범위는 0 ~ 1000 바, 최대 보간 속도는 밀리초 당 10 나노 증가, 사용 가능한 웨이퍼 크기 범위는 최대 200mm 8 인치, 기울기 범위는 0 ~ 4도로 최대 정확성과 반복 성을 갖습니다. 프로버 (Prober) 의 디자인은 정확성과 반복성이 매우 엄격한 공차 수준 내에 유지되도록 보장합니다. 다중 프로브 (Probe) 를 동시에 동적으로 프로브할 수 있도록 고 (High) 및 저 (Low) 상수 힘 모드로 구성됩니다. 프로버 (Prober) 는 켈빈 접촉 (Kelvin Contact) 방법을 사용하여 프로빙 프로세스 전체에서 가장 높은 일관성과 신뢰성을 보장합니다. 연락처 (Contact) 방법은 접촉부 (Contact Tip) 와 전자 장치 (Electronic Device) 사이의 접점에서의 전류 측정에 의존합니다. 이 방법을 사용하면 테스트 단계에서 여러 Probe 가 디바이스와 동시에 접촉할 수 있습니다. 또한, 작동기 (Actuator) 에 의해 접촉 압력을 조정 및 제어하여 최적의 접촉력 (Contact Force) 과 정확도 수준을 보장 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 테스트 및 특성화 작업을 용이하게하도록 설계된 다양한 기본 제공 소프트웨어 툴과 유틸리티를 갖추고 있습니다. 고급 분석 툴을 사용하면 신호 무결성 (signal integrity), 버전 규정 준수 (version compliance), 안정성 (stability) 과 같은 다양한 매개변수를 측정할 수 있습니다. 또한, 소프트웨어 유틸리티는 사용자에게 다양한 시각화 모드 (예: 그래프, 차트, 테이블) 를 제공합니다. 이 모드는 Probe 프로세스와 관련하여 보다 자세한 의사 결정을 내릴 수 있도록 설계되었습니다. TOKYO ELECTRON 프로버 (TOKYO ELECTRON Prober) 는 집적 회로 (Integrated Circuit) 및 서브어셈블리의 테스트와 특성을 간소화하도록 설계된 광범위한 기능을 제공하는 정확하고 신뢰할 수있는 전문가입니다. 이러한 기능의 조합은 최대 정확성과 반복성을 보장하는 동시에, 장비의 오해 (misprobing) 와 잠재적 손상 (potential damage) 을 줄일 수 있습니다. 프로버 (Prober) 를 사용하면 프로브 압력 (Probe Pressure) 과 동작 (Motion) 을 쉽게 조정하여 최고 수준의 정확도와 결과를 얻을 수 있습니다.