판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON Precio Nano #293696979

TEL/TOKYO ELECTRON Precio Nano는 반도체 IC 생산 공정과 관련된 재료 및 장치 특성을 향상시키기 위해 설계된 고급 Prober 솔루션입니다. 이 장비는 고급 빔 스티어링 (beam steering) 기술을 사용하여 반도체 웨이퍼의 전기 특성을 빠르고 정확하게 측정합니다. 이 기술을 사용하면 Wafer Misalignment 또는 Blockage 와 같은 중요한 디바이스 매개변수를 정확하게 파악할 수 있습니다. Wafer Misalignment 또는 Blockage 는 신뢰할 수 있는 수율을 설정하는 데 필수적입니다. TEL Precio Nano는 측정 시간을 대폭 줄이고 정확도를 향상시켜 장치 생산 이전의 평가 및 분석 과정을 개선합니다. 이 시스템은 높은 기동성과 안정성 (stability) 을 바탕으로 설계되었으며, 테스트할 재료 위로 빠르고 정확하게 이동할 수 있습니다. 또한 정확한 측정을 위해 높은 수준의 해상도와 민감도를 갖습니다. 또한 TOKYO ELECTRON Precio Nano에는 테스트 프로세스를 용이하게하기 위해 자동 정렬, 간단한 작동, 대형 터치 패널 모니터 등 다양한 기능이 있습니다. Precio Nano의 기능 세트에는 다양한 빔 스티어링 기능이 포함되어 있습니다. 미리 프로그래밍된 스캐닝 패턴은 여러 각도에서 측정할 수 있게 해 주며, 이를 통해 다양한 매개변수와 측정값을 빠르게 수집할 수 있습니다. 이 단위는 측정 패턴을 자동으로 조정하여 다양한 재료 조건을 보완하도록 설계되었습니다. 또한 자동 다이 투 다이 비교를 지원합니다. 또한, 빔 스티어링 (beam steering) 기능을 통해 여러 빔 스팟을 동시에 조명하여 전류와 전압을 동시에 측정 할 수 있습니다. 이 기계는 확장 된 측정 범위 (extended measurement range) 와 넓은 시야 (field of view) 를 가지고 있으며, 직접 시각이나 전통적인 프로버를 통해 가능한 것보다 더 큰 적용 범위를 허용합니다. 또한 여러 레이어의 재료를 조사 할 수 있습니다. 또한 TEL/TOKYO ELECTRON Precio Nano는 빠른 설정을 위해 자동 정렬 기능을 갖추고 있습니다. 또한, 이 도구는 매우 효율적이고 사용하기 쉽도록 설계되었으며, 최소한의 노력으로 빠르고 정확한 측정이 가능한 플랫폼 (platform) 을 제공합니다. 사용자 인터페이스 (User Interface) 는 최초 사용자에게도 간단한 학습 곡선 (Learning Curve) 을 제공하는 방식으로 배치됩니다. TEL Precio Nano는 성능과 정확성을 극대화하기 위해 고품질의 스테인리스 스틸 챔버 (Stainless Steel Chamber) 와 보호 주택으로 구축되어 안정적인 운영을 지원합니다. 자산에는 고급 레이저 매핑 (laser mapping) 및 이미징 시스템 (imaging system) 이 장착되어 테스트중인 재료를 정확하게 측정하고 프로파일링합니다. 전체적으로, TOKYO ELECTRON Precio Nano는 반도체 IC 생산 공정의 특성 공정에서 고속 및 정확성을 제공하도록 설계된 고급 프로버 모델입니다. 이 장비는 빔 스티어링 (Beam Steering) 기술을 활용하여 확장 된 측정 범위와 빠른 설정 시간 (Setup Time) 으로 여러 각도에서 측정을 허용합니다. 또한 다양한 내장 기능과 효율적인 운영을 위한 사용자 친화적 인터페이스 (User-Friendly Interface) 가 포함되어 있습니다.