판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON PR300Z #9251836

TEL Plasma Pro300z는 고급 반도체 테스트 및 생산에 사용하기 위한 고급 전문가입니다. 이 시스템은 고급 회로 (advanced circuit) 와 컴포넌트를 보다 효율적으로 테스트하고 생산할 수 있도록 설계된 다양한 강력한 기능을 제공합니다. Pro300z는 고밀도, 유연성 및 복잡한 회로를 통한 프로브에 이상적입니다. 속도, 정확도가 우수하며, 마이크론 크기 크리티컬 (micron size-critical) 기능에 대한 빠르고 안정적인 조사를 제공합니다. Pro300z의 효율적인 공간 및 유연한 구성 사용은 wafer probing, digital or mixed signal probing, device characterization 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. Pro300z (Pro300z) 는 표준 프로브 (Standard Probe) 에서 고밀도 구조를 통한 프로브에 적합한 프로브 (Probe) 에 이르기까지 다양한 프로브 사양을 수용 할 수있는 다양한 프로브를 제공합니다. 모든 프로브 (Probe) 는 쇼트 (Shorts) 나 테스트 포인트 (Test Point) 와의 접촉으로 인한 커버리지를 최대화하고 피해를 최소화하도록 설계되었습니다. 또한 Pro300z에는 컴포넌트를 보고 정렬하기 위한 레티클 스테이지 모듈 (reticle stage module) 과 플랫폼이 함께 제공되며, 운영자가 테스트 프로브를 정확하게 정렬하고, 컨택터 마모의 양을 줄일 수 있습니다. Pro300z에는 대용량 생산 환경을 위해 설계된 혁신적인 웨이퍼 핸들러가 포함되어 있습니다. 복잡한 웨이퍼 구조를 조사하기위한 2 축, 3 축 및 옵션 4 축 스테이지가 장착되어 있습니다. 웨이퍼 핸들러 (wafer handler) 는 컨택터 마모를 최소화하고 연약한 웨이퍼의 파손을 최소화하기 위해 균일 한 진공 압력을 전달할 수 있습니다. Pro300z에는 프로그래밍을위한 내장 Windows 기반 사용자 인터페이스가 포함되어 있습니다. 이 인터페이스는 빠르고 정확한 설치, 운영, 데이터 입수를 위해 설계된 사용자 지정 가능한 화면 세트로 구성되어 있습니다. Pro300z 는 포괄적인 테스트 보고서 및 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 포함하여 프로그램 로드, 데이터 분석, 디바이스 추적 등을 손쉽게 수행할 수 있는 우수한 보고 기능을 갖추고 있습니다. Pro300z는 고급 회로와 구성 요소를 안정적으로 테스트하고 개발할 수 있는 유연성, 효율성, 안정성을 제공합니다. 탁월한 속도, 정확성, 유연성을 제공하여 고밀도 및 복잡한 구조물의 테스트 및 생산을 용이하게 합니다. 또한 Pro300z 는 직관적이고, 사용자 정의 가능한 사용자 인터페이스를 제공하여 신속하게 테스트 프로그래밍을 수행하고, 고품질 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. Pro300z는 모든 실험실, 테스트, 생산 환경에 적합한 제품입니다.