판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON PR200Z #9146543

TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z Prober는 완전히 자동화된 고정밀 웨이퍼 프로브 장비로, 다양한 반도체 및 통합 장치를 테스트 할 수 있습니다. 이 시스템에는 자동 최소 Probing Force 제어 및 접촉 조정을 달성하는 25발의 XY 선형 스테이지가 있습니다. DRAM, SRAM, 플래시 메모리, 전원 장치, 아날로그, 디지털 장치 등 다양한 반도체 장치를 분석, 테스트할 수 있습니다. TEL PR200Z Prober는 효율적이고 신뢰할 수 있는 A/U (Auto Load/Unload) 장치를 장착하여 Prober에 자동 테스트 웨이퍼 공급을 제공합니다. 이 기계에는 통합 X-Y 모션 컨트롤과 효율적인 삽입 프로세스가 있습니다. 프로버 (Prober) 는 최대 200mm 직경의 웨이퍼를 적재 할 수 있으므로 대형 웨이퍼 테스트에 이상적인 선택입니다. 프로브 (Probe) 는 클린 룸 (Clean Room) 환경에서 사용하도록 설계되었습니다. 즉, 프로 버의 적절한 작동을 보장하기 위해 클린 룸 (Clean Room) 특정 클리닝 및 안전 프로토콜만 관찰해야합니다. 또한 TOKYO ELECTRON PR200Z 프로버는 ARC (Automatic Reticle Change) 및 DAPC (Dual-Axis Plate Correction) 를 포함한 고급 기술로 제작되었습니다. 이러한 기술로, 프로 버는 3 미터 이하의 높은 정확도를 유지할 수 있습니다. PR200Z Prober의 밀접하게 통합된 자동 로드/언로드 (A/U) 도구 덕분에 자동으로 웨이퍼 배치, 테스트 실행, 데이터 수집 등을 수행할 수 있습니다. 에셋에는 웨이퍼 (wafer) 기판의 기기 크기 측정· 분석용 고해상도 카메라가 장착돼 있다. 또한, 정확한 시력 정렬 모델 (vision alignment model) 을 사용하여 프로버의 웨이퍼 기판의 정확한 위치를 결정할 수 있습니다. 이 Prober는 테스트 및 데이터 분석을 자동화하는 강력한 소프트웨어 장비를 제공합니다. 또한 다양한 맞춤형 프로그램 (custom program) 을 통해 사용자가 직접 테스트 및 평가 방법을 사용자 정의할 수 있습니다. 이러한 프로그래밍 가능한 매개 변수에는 테스트 프로브 구성, 지연 시간, 강제 힘 및 측정 수가 포함됩니다. TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z Prober는 반도체 장치의 고정밀 테스트를위한 강력한 기술 기능을 제공합니다. 자동 로딩 시스템, 고해상도 카메라, 정확한 동작 제어 기능을 통해 TEL PR200Z 는 다양한 장치를 정확하고 일관되게 테스트할 수 있습니다. 프로그래밍 가능한 기능과 자동화된 기능을 갖춘 이 프로버 (Prober) 는 반도체 장치의 연구와 개발에 이상적인 선택입니다.