판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XLm #9366580

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XLM은 고급 반도체, LCD 및 옵토 전자 장치 테스트를 위해 설계된 프로버입니다. TCO (총소유비용) 절감, 반복성 향상, 다양한 테스트/조사 요구 사항 처리 기능 등을 갖춘 완벽한 기능을 갖춘 Prober입니다. TEL P-8XLm에는 테스트 중인 장치와의 전기 접촉을위한 8 x 8 핀 어레이가 장착되어 있습니다. 핀은 프로그래밍 가능하며, 다양한 응용 프로그램에 대해 다양한 핀 (pin) 구성을 사용할 수 있습니다. 프로버는 직류/전압 (DC/CV) 소스로 구동할 수 있으며 제어 인터페이스는 GUI (Graphical User Interface) 소프트웨어를 통해 제공됩니다. TOKYO ELECTRON P 8 XLM은 고급 공기 베어링 및 전단 힘 보상으로 뛰어난 반복 성과 탐사 정확성을 제공합니다. 공기 베어링 (air bearing) 은 매끄럽고 평평하고 마찰이 적은 접촉 영역을 보장하는 반면, 전단 힘 보상은 광범위한 테스트 조건을 통해 안정적인 접촉을 제공하는 데 도움이됩니다. 프로버는 핀당 최대 8 개의 프로브 (Probe) 로 구성될 수 있으며, 유연한 접촉 구성 및 연결 패턴을 제공합니다. 정확한 결과를 얻기 위해 P-8XLm (P-8XLm) 에는 빠른 주기 시간이 장착되어 있어 시스템 설정 및 응답 시간이 간편합니다. TEL P 8 XLM에는 현재 누출 테스트, 전원 장치 성능, 장치 성능 저하, 열 측정 등 다양한 테스트 기능이 있습니다. 프로버 (Prober) 는 USB 포트를 가지고 있으며 호스트 컴퓨터에 쉽게 연결할 수 있으므로 신속하게 데이터를 수집할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XLM에는 임피던스 (Impedance) 및 출력 측정 (Output Measurement) 을 포함한 모든 진단 도구가 포함되어 있어 장치의 성능을 자세히 분석 할 수 있습니다. 또한 스캐닝 프로브 스테이션 (scanning probe station) 이 장착되어 인라인, 오프라인 및 수동 검사를 수행하는 데 사용됩니다. P 8 XLM (P 8 XLM) 의 테스트 및 Probing 기능 외에도, 신뢰성과 반복성을 보장하도록 설계된 다양한 다른 기능들이 있습니다. 이러한 기능에는 정렬 및 포지셔닝을위한 통합 비전 시스템, 수정 및 최적화를위한 소프트웨어 프로그램, 맞춤형 어플리케이션을위한 테스트 레시피 라이브러리 (Library of test recipe) 가 포함됩니다. TOKYO ELECTRON P-8XLm 에 투자함으로써, 엔지니어는 디바이스 테스트 및 조사 요건을 최대한 활용하도록 보장할 수 있습니다.