판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9205865

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL은 반도체 웨이퍼 및 통합 부품의 전기 테스트 및 프로브에 사용되는 프로버입니다. 표본 표면을 가로 질러 빠르게 움직이는 주사력 (scanning force) 을 가지고 있으며, 정확하고 정확한 접촉 식별이 가능합니다. TEL P8XL의 주요 기능에는 개선 된 레이저 마크 감지 장비, 고급 패턴 인식 및 CLF (Ultra-Low Contact Force) 검사 모드가 포함됩니다. TOKYO ELECTRON P8-XL (TOKYO ELECTRON P8-XL) 은 샘플 표면에서 웨이퍼 또는 IC 패턴 포인트를 현지화하기 위해 레이저 라인 마크 인식을 사용하는 독특한 광학 시스템을 갖추고 있습니다. 이를 통해 반도체 웨이퍼 및 구성 요소를 빠르고 정확하게 조사 할 수 있습니다. P 8 XL의 개선 된 패턴 인식 장치 (pattern recognition unit) 는 복잡한 패턴으로부터 더 정확한 측정을 얻어 더 높은 품질의 제어를 가능하게합니다. 웨이퍼 프로브는 Vacuum Chuck, Closed Circuit Loading Apparatus 및 Probe Needle Carrier를 갖춘 정밀 기계로 제공됩니다. 정확한 데이터 수집을 위해 웨이퍼 프로브에는 각 프로브 및 접촉에서 정전기를 줄이기 위해 설계된 정전기 대책 (Static-Electricity Countermeasures) 이 포함됩니다. 더 정확한 측정을 보장하기 위해, 프로버는 또한 진동 댐퍼 (vbration damper) 와 전자기 노이즈 (electromagnetic noise) 를 줄이기 위한 특수 쉴드를 특징으로합니다. P8XL에는 "Coarse Low-Force" 를 나타내는 고급 CLF 검사 모드도 있습니다. 따라서 접촉력 (Contact Force) 이 매우 낮아 접촉 측정 및 검사를 신속하게 수행할 수 있습니다. 클프 (CLF) 로 수행되는 측정의 데이터는 더 안정적이며 접촉력이 낮기 때문에 더 높은 온도에 더 효과적으로 견딜 수 있습니다. TEL P8-XL은 고정밀도 및 높은 정확도 조사 및 접촉 테스트를 위해 설계되었습니다. 저접촉력 검사 모드 (low-contact-force inspection mode), 고급 패턴 인식 (advanced pattern recognition) 및 고유한 레이저 마크 탐지기를 사용하여 정확성과 속도를 높입니다. 웨이퍼 프로브 (wafer probe) 는 다양한 반도체 웨이퍼 및 IC와 작동하도록 설계되어 생산 과정에서 귀중한 도구입니다.