판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9205863

TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL
ID: 9205863
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 2001
Probers, 8" Tri temp chuck Temperature: -40°C to +150°C Gold chuck ASU / BCU Vision system High force z drive: 60 Kg PTPA: Accuracy: +/- 4.0 um Z Accuracy: +/- 5.0 um Ink dot inspection Probe mark inspection Top loader VIP 3 Board No OCR Automatic wafer size adjustment: 100 mm to 200 mm Wafer pre-aligner WAPP Cassette top loader Single wafer load tray GPIB Interface D214 Chiller 2001 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL은 전기 기판에 대한 정확하고 안정적인 조사 및 테스트를 제공하도록 설계된 프로버입니다. 매우 다양한 응용 프로그램 (application) 에 대한 기판 테스트에서 높은 정도의 정확성과 반복성을 제공하도록 설계되었습니다. TEL P8XL (TEL P8XL) 은 다양한 기능을 제공하므로 다양한 Probing 및 Testing 가능성을 매우 정확하고 반복적으로 수행할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P8-XL (TOKYO ELECTRON P8-XL) 은 X-Y-Z 스테이지와 고유 한 핸드 휠 안정화 장비를 갖추고 있어 샘플이 테스트 및 테스트 중에 테스트 헤드에 올바르게 정렬되고 안정화되도록 합니다. 이 시스템은 일관되게 정확하고 정확한 결과를 보장합니다. 프로버 (Prober) 에는 광학 정렬 장치 (Optical Alignment Unit) 가 있으며, XYZ 이동의 정확성과 함께 샘플의 위치를 측정하는 데 사용할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 결과의 정확성과 반복 가능성을 확인할 수 있습니다. 프로버의 테스트 헤드는 또한 테스트 중에 일정한 온도에서 샘플을 유지하는 TEC (Thermo-electric Cooler) 를 특징으로합니다. 이를 통해 더 정확한 결과를 얻을 수 있으며 열 드리프트를 피하는 데 도움이됩니다. 또한 TEC는 열 순환 (thermal cycling) 으로부터 프로브를 보호함으로써 프로브의 수명을 연장하는 데 도움이됩니다. 테스트 헤드 (Testing Head) 에는 빠르고 정확한 샘플 배치 및 정렬이 가능한 통합 비전 머신 (Vision Machine) 도 포함되어 있습니다. 따라서 설정 시간을 줄이고, 기판을 매번 정확하고 정확하게 배치할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 다양한 응용 프로그램에서 장치를 수행 할 수있는 여러 액세서리가 있습니다. 여기에는 다양한 웨이퍼 형식을 지원하는 웨이퍼 디스펜서 (wafer dispenser), 프로브 카드 (Probe Card) 없이 단일 다이 (Die Die) 에 연결할 수있는 다이 레벨 액티브 프로브 카드, 웨이퍼 (Wafer) 또는 다이 (Die) 의 전압 수준을 정확하고 빠르게 측정하는 데 사용할 수있는 전압 프로브 카드 도구. TOKYO ELECTRON P-8 XL에는 효율적이고 정확한 데이터 수집이 가능한 여러 소프트웨어 패키지도 포함되어 있습니다. TEL 테스트 센터 (TEL Test Center) 는 효율적이고 반복 가능한 데이터 수집 및 분석을 가능하게 하는 자동화된 테스트 제품군입니다. 이 소프트웨어는 사용자 친화적이며 직관적이며, 특정 애플리케이션 (application) 의 특정 요구를 충족할 수 있도록 소프트웨어 (parameter) 를 사용자 정의할 수 있습니다. 전반적으로 TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL (TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL) 은 매우 다양한 응용 프로그램의 기판 테스트에서 높은 수준의 정확성과 반복 성을 제공하는 훌륭한 전문가입니다. 사용자 친화적인 소프트웨어와 효율적이고 정확한 테스트 헤드 (testing head) 를 통해 다양한 애플리케이션에 적합하며 정확성과 반복성이 지속적으로 높아집니다.
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