판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9178475
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ID: 9178475
빈티지: 2001
Probers
Loader type: Top loader
Chuck: Gold hot & cold
Polisher: WAPP (Not include plate)
SACC: Flip
Temp controller: Yes (D214 type chiller connection possible)
Manipulator: Yes
CPU: VIP3
VIP3A CPU upgrade
Small Die Options:
256 Bin para, FTP Net, HPC Chuck, HPC Isolation chuck
HPC Taiko chuck, Thin wafer option, Various OS, probe card ring insert
OCR
(Cognex Insight 1700 or 1701)
2001 vintage.
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TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL은 반도체, 유기 전자 제품 및 나노 스케일 제품과 같은 다양한 재료의 전기 특성을 측정하도록 설계된 프로버입니다. 여기에는 Probe, Probe Arm, Test Card 및 다양한 모니터링 장비와 같은 다양한 구성 요소가 있습니다. 단일 보드로 한 번에 최대 8 개의 웨이퍼를 테스트할 수 있으며, 기존 모델보다 최대 8 배 빠릅니다. TEL P8XL (TEL P8XL) 은 프로브 캐리지 (Probe Carriage) 의 빠른 이동을 위해 자기 구동 장비를 중심으로 제작되었으며, 고도로 민감한 레이저 에지 감지 시스템을 사용하여 웨이퍼의 가장자리를 정확하게 찾습니다. 높은 정확도와 견고성으로 인쇄 회로 기판의 임피던스 (impedance), 전압 (voltage), 소음 (noise) 과 같은 다양한 prober 응용 프로그램에 이상적입니다. 미세한 수준의 결함을 감지 할 수있는 정확한 종점 제어를 갖춘 완전 자동화 된 저전자 빔 (low-electron-beam) 전압 테스트 솔루션을 갖추고 있습니다. 레이저 기반 에지 감지 장치 (edge-detection unit) 는 매우 정확하며 여러 미크론 내에서, 심지어 서브 미크론 수준의 정확성으로 웨이퍼의 가장자리를 찾을 수 있습니다. 또한 독립적 인 온도 감지 모듈을 갖춘 활성 열 제어 장치 (Active Thermal Control) 가 장착되어 테스트 웨이퍼에서 안정성과 온도의 균일성을 제공합니다. 또한, TOKYO ELECTRON P8-XL은 광범위한 회로를 포함 할 수있는 다양한 테스트 레시피를 통합 한 다양한 작동 모드를 제공합니다. TEL P8-XL은 PC 기반 인터페이스를 사용하여 사용자가 Prober 기능 및 설정에 액세스하고 테스트 구성을 생성할 수 있습니다. 안전성을 위해, 기계는 포괄적 인 참조 라이브러리와 함께 통합 안전 경보 도구를 갖추고 있습니다. 다양한 외부 데이터 획득 시스템에 연결하기 위해 IEEE-488, RS-232 및 IEEE-1149.1과 같은 여러 업계 표준 인터페이스와 호환됩니다. 또한 여러 언어를 지원하여 여러 언어를 사용할 수 있습니다. 결국 P-8 XL (P-8 XL) 은 신뢰성이 높고 고급 프로버로, 효율적인 웨이퍼 테스트를 가능하게 하는 다양한 기능을 제공합니다. 정확한 종점 제어, 레이저 에지 감지 자산, 활성 열 제어, 안전성 및 작동 모드의 포괄적 인 라이브러리를 통해 자동 저전자 빔 전압 테스트를 제공합니다. 이 제품은 다양한 애플리케이션에 대한 다양한 재료와 웨이퍼를 테스트하는 데 이상적인 솔루션입니다.
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