판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9178469

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL은 반도체 산업의 미세 조사, 분석 및 검사에 사용되는 고정밀 전문가입니다. 종합적인 댐핑 (damping) 기술을 이용한 견고한 구조로 스캐닝 현미경과 광범위한 프로브 (Probing) 기능을 통해 정확한 나노미터 해상도를 만들 수 있습니다. TEL P8XL (TEL P8XL) 은 동일한 사이트에서 높은 정확도와 반복성으로 샘플을 정확하게 측정할 수 있으므로 웨이퍼 프로브에 이상적인 도구입니다. 최대 스캐닝 속도 (초/초) 로 최대 100mm의 샘플을 측정 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P8-XL (TOKYO ELECTRON P8-XL) 에는 회선 보상, 이미지 상관 관계 분석, 이미지 품질 향상을 위한 고급 조명 등 다양한 이미지 안내 시스템을 갖춘 최적화된 옵틱이 장착되어 있습니다. 또한 자동화된 정렬 및 이미징을 제공하여 빠르고 정확하게 매핑할 수 있습니다. 또한, 최적의 성능을 위해 웨이퍼 (wafer) 유형과 크기를 신속하게 식별할 수 있는 웨이퍼 인식 (wafer recognition) 기능이 있습니다. 고해상도와 정밀도로, TOKYO ELECTRON P 8 XL은 극단적 인 측정 및 검사에 적합합니다. 통합 3축 스캔 옵션을 사용하면 XY 축 스캔을 동시에 수행할 수 있고, Z축 스캔을 통해 고급 스캔 기능을 사용할 수 있습니다. 즉, 곡면 (curved surfaces) 및 장치의 다른 레이어 (layers) 와 같은 모든 방향의 샘플을 정확하게 분석할 수 있습니다. P8-XL 시스템에는 자동화된 측정 (automated measurement), 통합 데이터 분석 (integrated data analysis), 다양한 소프트웨어 옵션 등 프로세스를 단순화하는 여러 가지 강력한 기능이 있습니다. 사용자 친화적인 Windows 기반 GUI 를 통해 경험이 부족한 사용자를 쉽게 제어할 수 있으며, 숙련된 사용자를 위한 고급 (advanced) 기능을 조작할 수 있습니다. 또한 전원 장애 방지 시스템 (Power Failure Protection System) 을 통해 데이터 보호, 전원 중단 시 프로브 손상 (Probe Damage) 을 방지할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P-8 XL 프로버는 반도체 산업의 독특한 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 뛰어난 정확성, 반복성 및 유연성으로 안정적인 결과를 제공합니다. 다양한 매개변수를 최적화하면 생산량 증대, 자원 효율성 극대화에 도움이 됩니다.