판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9152955

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL은 반도체 테스트 및 장치 평가를 위해 TEL (TOKYO ELECTRON) 이 설계 한 하이브리드 프로버입니다. 이 고급 프로버는 DRAM, SRAM, 논리 회로, 메모리 카드 및 기타 메모리 장치와 같은 고밀도 반도체 장치의 특성에 적합합니다. 또한, TEL P8XL 은 매우 안정적이며, 다양한 디바이스 크기, 테스트 요구 사항, Probe 요구 사항을 처리할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P8-XL은 8 단계 대칭 병렬 메커니즘을 특징으로하며, 최대 프로버 부하 용량이 5g인 직경 300mm까지 칩을 보유 및 조사 할 수 있습니다. Prober는 작은 설치 공간, 큰 Probe 봉투, 최대 속도, 빠른 응답 시간 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 프로브 스테이지는 가변 속도와 프로그램 가능한 프로브 높이로 완전히 동력화됩니다. 프로버 (Prober) 는 0.5 m의 정확도로 넓은 속도 범위에서 작동 할 수 있습니다. TEL P 8 XL은 또한 양면 작업에서 접촉 및 스트리핑 테스트에 이르기까지 다양한 고급 프로빙 프로그램을 제공합니다. 완전 자동 접촉 제어 시스템이 있으며 단일 포인트, 연속 포인트, 스캔 포인트, 서보 오류 및 2D 스캔을 포함한 다양한 프로빙 모드를 제공합니다. P-8 XL은 반도체 테스트 및 장치 평가에 사용하도록 설계된 강력한 전문가입니다. 다중 축 병렬 메커니즘, 전동 프로브 스테이지 (Motorized Probe Stage), 고급 프로브 프로그램 (Advanced Probing Program), 자동 접촉 제어 시스템 (Automated Contact-Control System) 과 같은 고급 기능을 통해 광범위한 디바이스 크기와 테스트 요구 사항을 통해 안정적이고 정확한 성능을 제공합니다. 광범위한 애플리케이션뿐 아니라, 많은 양의 테스트에도 적합합니다.