판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9132754

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Prober는 반도체 칩을위한 최고의 웨이퍼 테스트 장비입니다. 내장형 전압 모니터링 테스트 헤드 (test head) 를 갖춘 반도체 테스트 베드를 갖추고 있어 다양한 웨이퍼 레벨 테스트 어플리케이션에 적합합니다. TEL P8XL (TEL P8XL) 은 매우 정확하고 정밀하게 다양한 칩을 테스트할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P8-XL은 다양한 기능을 제공합니다. 다이 레벨 (die level) 에서 전압 수준을 감지하는 기능이 있는데, 이는 대용량 생산 라인에 매우 중요합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 칩의 신뢰성 테스트에 유용한 모든 주요 다이 패드 (Die Pad) 에 대한 현재 누출을 감지하는 기능을 가지고 있습니다. 다른 기능으로는 이중 축 샘플 스테이지 동작 및 평행 정렬 광학 (parallel-aligned optics) 이 있으며, 이는 높은 정확도의 웨이퍼 위치 및 신호의 최적의 검출을 보장합니다. 이 시스템은 또한 칩의 표면 및 온도 특성을 측정하는 기능 (장치 특성화 및 엔지니어링에 필수적) 을 가지고 있습니다. 프로브에는 고급 웨이퍼 접촉 장치도 있습니다. 컨택트 팁 마모는 최소화하면서 웨이퍼 (wafer) 측정의 신뢰성을 높이도록 설계되었습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P8XL (TELL/TOKYO ELECTRON P8XL) 은 고유한 장력 메커니즘으로, 접촉력을 조정하고 광범위한 테스트 조건에 최적의 성능을 제공할 수 있습니다. 또한 자동 레벨 링 기능 (automatic leveling function) 이 포함되어 있어 웨이퍼 서피스에 대한 프로브 팁의 높이를 정확하게 조정할 수 있습니다. P 8 XL은 또한 사용자 친화적 인 인터페이스를 제공하여 쉽게 작동하고 관리할 수 있습니다. 다양한 디스플레이 및 구성 옵션이 포함된 사용이 간편한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 가 포함되어 있습니다. 강력한 진단 (Diagnostic) 및 오류 로깅 (Error Logging) 기능을 통해 기계가 문제를 신속하게 진단하고 복구할 수 있습니다. 전반적으로 TEL P 8 XL Prober는 웨이퍼 레벨 테스트 응용 프로그램을위한 훌륭한 도구입니다. 이 기능은 높은 수준의 정확성과 신뢰성을 제공하는 반면, 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 사용 및 유지 관리가 용이합니다. 이 모든 특징으로, 이 프로버가 반도체 칩 테스트를위한 주요 도구인 것은 당연합니다.