판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9131749

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL은 반도체 테스트 및 분석을 위해 설계된 매우 정확한 전문가입니다. 이 제품은 트랜지스터, 메모리 셀, 디지털 회로와 같은 장치 구조를 고해상도, 고정밀 측정할 수 있습니다. 이 장비는 매우 다재다능한 도구로서, 장치 속성을 분석하고 테스트 데이터를 생성하여 파라메트릭 (parametric) 및 기능 테스트 (Functional Testing) 와 같은 다양한 테스트를 수행할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 독립적이며 사용이 간편하고 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 제공하여 숙련된 엔지니어들과 반도체 업계의 새로운 기술자들에게 이상적인 툴입니다. TEL P8XL은 완전히 자동화 된 멀티 프로브 프로버 시스템입니다. 파라 메트릭 전기 테스트, 동적 전압 스트레스, 모놀리식 스트레스 특성, 장치 특성 등 다양한 프로브 및 측정 기능을 제공합니다. 하드 프로브 (hard probe) 와 소프트 프로브 (soft probe) 를 모두 사용하여 장치 구조의 고해상도 매핑을 허용합니다. 이 장치에는 고성능 비전 (Vision) 분석 머신이 장착되어 있으며, 검사관은 전자 마이크로 그래프를 장치의 설계 사양과 비교하고 대조 할 수 있습니다. 장치 구조의 형태/크기 (shape/size) 를 정확하게 측정하는 기능을 통해 엔지니어가 테스트를 정확하게 수행할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P8-XL (TOKYO ELECTRON P8-XL) 은 고급 어댑티브 스캔 전략도 갖추고 있으며, 이를 통해 엔지니어는 애플리케이션에 가장 적합한 스캔 매개변수를 선택할 수 있습니다. 프로버 도구 (Prober Tool) 에는 압력과압 보호 자산 (over-pressure protection asset) 을 포함하여 수많은 안전 기능이 있으며, 압력 중에 샘플에 대한 충격을 방지합니다. 또한 과열 컷 아웃 (overheat cut-out) 기능이 포함되어 있어 테스트 중 과도한 온도로 인한 작업 오류를 방지합니다. 샘플을 더 보호하기 위해, 프로브 샘플 압력과 샘플 온도를 모두 보정하는 자동 교정 (automated calibration) 모델이 장착되어 있습니다. 전반적으로 TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL은 정확한 반도체 테스트 및 분석을 위해 설계된 매우 정확한 전문가입니다. 다용도가 높은 기능, 자동화된 테스트 전략, 안전 기능, 신뢰성 있는 성능 등으로 반도체 (반도체) 업계의 연구 개발에 이상적인 선택이 됩니다.