판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293827264

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Prober는 반도체 웨이퍼에서 집적 회로 및 부품의 테스트 및 측정을 위해 설계된 완전 자동화 된 고정밀 웨이퍼 프로브 장비입니다. 다용도 TEL P8XL 프로버 (Prober) 는 자동 정렬 및 초점 제어, 정확한 Probe 카드 정렬 및 모션 제어, 최대 8 개의 레인 (Lane) 에 대한 고정밀 자동 검사 등 다양한 기능을 제공합니다. 여러 고객 요구 사항. TOKYO ELECTRON P8-XL Prober는 매우 정확하고 반복 가능한 결과를 제공하도록 설계되었습니다. 이 제품은 특허를 획득한 WIS (Wafer Indexing System) 를 사용하여 테스트 프로세스의 모든 단계에서 웨이퍼의 위치와 정렬과 자동 공구 중심 장치 (Automatic Tool Centering Unit) 를 동일하게 조정합니다. 이를 통해 웨이퍼 (wafer) 와 프로브 (probe) 카드 간에 데이터를 전송할 때 적절한 정렬과 정확성을 보장하여 데이터 정확성과 반복성을 보장할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P-8XL Prober는 크고 직관적인 터치스크린 GUI를 통해 사용자 친화적으로 설계되었으며, 모든 구성 요소에 쉽게 액세스할 수 있습니다. 또한, 기본 매크로 (Basic Macro) 에서 고급 알고리즘 (Advanced Algorithm) 에 이르기까지 Probing 기능에 대한 다양한 제어 수준을 제공하여 광범위한 요구 사항에 대한 성능을 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 여러 프로세스를 동시에 실행하여 생산성을 극대화할 수 있습니다. TEL P-8 XL Prober는 매우 정확한 웨이퍼 프로브 외에도 프로브 후 분석 기능도 제공합니다. 게이트/컨택트 누출 테스트, 트랜지스터 측정, 패턴 비교를 수행할 수 있으며 ADR (Automatic Defect Review) 시스템 (옵션) 과 연결할 수 있습니다. 이를 통해 안정적인 추적 매핑 (trace mapping) 및 결함 (defect) 분류가 가능하므로 복잡한 테스트 애플리케이션에 적합합니다. 전반적으로 P-8XL Prober는 웨이퍼 조사 및 테스트에서 높은 수준의 효율성과 정확성을 제공합니다. 자동 정렬 및 초점 제어, 사용자 정의 가능한 프로빙 알고리즘, 포스트 프로브 (post-probing) 결함 분석은 다양한 반도체 생산 환경에서 사용할 수 있는 탁월한 선택입니다.