판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293804424
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ID: 293804424
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 1999
Prober, 8"
AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E3101A / 4071A Tester
Test head
Miscellaneous parts
No pallet
Operating system: HPUX / Wind river
1999 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Prober는 반도체 및 IC 장치를 처리 및 검사하도록 설계된 반자동 프로버입니다. 고정밀 선형 드라이브 장비로 만든 Prober의 Mechanical Arm (기계식 암) 은 X, Y 및 Z 축에서 장치 밑을 정확하게 이동하고 배치할 수 있습니다. 암은 또한 부품 성능에 미치는 영향을 최소화하면서 균열, 긁힘, 공백 (void) 과 같은 다양한 결함을 감지하고 측정 할 수 있습니다. Probe Card 및 Vision System은 또한 Prober의 정확성에 기여합니다. 프로브 카드 (Probe Card) 는 다양한 팁 크기와 모양을 지원하며 외부 간섭에 대해 완전히 보호됩니다. 시각 장치 (Vision Unit) 는 정확도 향상을 위해 50 배의 장치 언더테스트 (Undertest) 를 제공하며 설정이 용이하도록 자동 정렬 도구가 장착되어 있습니다. TEL P8XL은 시각 검사, 전기 특성, 화상, 금속화 등 다양한 검사를 수행하기 위해 프로그래밍 될 수 있습니다. 이 프로버는 작은 윤곽선, BGA, CBGA 및 TQFN 패키지를 포함한 200 개가 넘는 장치 모델과 호환됩니다. 또한 Class II 에어컨 및 습도 조절기를 통합하여 고정밀 측정을위한 안정적인 환경을 보장합니다. Prober의 내장 모니터 패널은 작업을 단순화하고, Prober의 상태에 대한 종합적인 평가를 제공합니다. TOKYO ELECTRON P8-XL은 신뢰할 수 있고 고급 프로버로, 클린 룸 테스트, 웨이퍼 패턴 측정 및 분석, 품질 보증 프로세스 등의 어플리케이션에 적합합니다. 고속 스캔 및 샘플링을 위해 설계되었으며, 우수한 제품 수율을 자랑합니다. 사용이 간편한 소프트웨어 및 내장 안전 메커니즘은 효율적이고 안전한 운영을 보장합니다. 이 Prober는 장치 특성에 대한 종합적인 평가를 위해 다른 테스트 시스템과 통합 될 수 있습니다. 그것 의 "콤팩트 '한" 디자인' 은 단단 한 공간 에서 사용 하는 데 이상적 이며, 정기적 으로 사용 할 수 있는 튼튼 한 재료 로 만들어진다. 궁극적으로 TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL은 품질 및 일관성을 위해 광범위한 장치를 검사하고 평가하는 데 이상적인 선택입니다.
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