판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293770737

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL (TELL/TOKYO ELECTRON P-8XL) 은 보다 정확한 접촉 프로브를 제공하며 웨이퍼 프로브 프로세스의 중요한 프로세스를 간소화하는 독특한 기능을 제공합니다. 높은 안정성과 동적 작동을 통해 IC 구성 요소 및 디바이스에 대한 고속, 안정적인 테스트에 이상적입니다. TEL P8XL에는 각 IC 장치의 정확한 3D 위치를 감지 할 수있는 높은 정확도 좌표 장비가 있습니다. 이러한 좌표는 매우 정확한 IC 프로브를 가능하게 하며 IC 기능과 제품 품질을 향상시킵니다. TOKYO ELECTRON P8-XL은 단일 축 설계보다 더 높은 프로브 정확도를 제공하는 듀얼 축 스테이지 디자인을 가지고 있습니다. X 축은 최대 830 mm까지 확장 될 수 있으며, 웨이퍼 (wafer) 또는 기판의 로드 및 언로드 프로세스의 분산을 줄일 수 있습니다. Y축은 확장 측정을 위해 설계되었으며, 회전 메커니즘은 ± 5 도 내에서 미세한 움직임을 얻을 수 있습니다. 이 장치는 또한 분석 분석을위한 다른 장치 매개변수의 정확한 조사를 용이하게합니다. 스팟 측정 및 켈빈 프로브 웨이퍼 분석을위한 정확한 접촉 기능이 있습니다. TEL P 8 XL은 광학 현미경, 도량형 시스템 및 기타 측정과 같은 다양한 도구 세트와 통합 될 수 있습니다. 또한 테스트 중 전기 노이즈를 감소시키는 샘플 격리 (sample isolation) 를 제공하여 정확도를 더욱 향상시킵니다. TOKYO ELECTRON P 8 XL (TOKYO ELECTRON P 8 XL) 에는 작업 중복을 줄이는 테스트 작업 관리 기능, 원격 작동 및 모니터링을 지원하는 원격 제어 인터페이스 등 다양한 기능이 포함되어 있습니다. 자동 교정 시스템 (Automatic calibration system) 도 포함되어 있어 프로브 드라이버의 기계적 변형을 보완합니다. 유지 보수 작업을 개선하기 위해 자체 진단 장치 (자체 진단 장치) 와 강력한 데이터 아카이브 기능도 내장되어 있습니다. 전반적으로 TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL은 웨이퍼 프로브에서 뛰어난 정밀도를 제공하는 다목적 전문가입니다. 이중 축 설계 및 확장 측정 범위를 통해 다른 장치 매개변수를 정확하게 조사 할 수 있습니다. 자동 교정 장치, 원격 제어 인터페이스, 강력한 데이터 아카이브 (robust data archive) 기능 등 다양한 기능을 결합하여 Probe 프로세스를 간소화하고 우수한 결과를 얻을 수 있습니다.