판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293749880

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Prober는 TEL (TOKYO ELECTRON) 이 설계하고 생산 한 접촉 기반 반도체 프로브 장비입니다. 이 검사는 고급 웨이퍼 검사 및 검사 시스템의 TEL/TOKYO ELECTRON Elite Series (TEL/TOKYO Elite Series) 의 일부이며, 효율성 및 기능 수준을 향상시키면서 안정적이고 정확한 검사 결과를 제공하도록 최적화되었습니다. TEL P8XL Prober는 컴팩트한 디자인을 갖추고 있으며, 낮은 진동, 비접촉 공기 베어링을 사용하여 정확성과 유연성을 높였습니다. 이 프로버에는 250mm 스테이지가 장착되어 있으며, 최대 50mm 웨이퍼와 멀티 사이트 다이를 검사할 수 있습니다. 또한 TEL 독점 NSP (Nano Scanning Platform) 기술은 사이트 간 이동 없이 단일 샷을 사용하여 전체 웨이퍼를 신속하게 검사, 조사할 수 있도록 합니다. TOKYO ELECTRON P8-XL Prober는 0.1 미크론 해상도의 고해상도 도량형 시스템을 갖추고 있으므로 모든 장치 매개 변수를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한 Prober에는 조정 가능한 현재 드라이버, 조절 가능한 웨이퍼 클램프 (Wafer Clamp), 조절 가능한 힘 감지 시스템 (Adjustable Force Sensing Machine), 다양한 고급 패턴 확인 소프트웨어 패키지 등 Probing 결과 및 장치 성능을 향상시키는 몇 가지 옵션이 제공됩니다. 이 검사는 가장 까다로운 반도체 검사 작업에 사용하도록 설계되었습니다. ESD 보호 (protection) 및 온도 조절 (temperature control) 을 비롯한 포괄적인 안전 기능 및 프로토콜이 장착되어 있습니다. P-8 XL Prober는 SEMI S.5.5 및 ISO 5.3 Clean Room 표준의 요구 사항도 준수하므로 모든 Probing 작업이 안전하고 깨끗한 환경에서 수행됩니다. 도쿄 전자 P8XL 프로버 (TOKYO ELECTRON P8XL Prober) 는 메모리, 논리, 전원 장치 등 다양한 반도체 재료와 장치를 정확하게 검사하고 조사하는 데 사용할 수 있습니다. 프로버는 또한 소스/드레인 측정, 장치 특성, 패라메트릭 수율 분석 등 가장 진보 된 프로빙 기술을 수행 할 수 있습니다. P 8 XL Prober에는 사용자 친화적 인 그래픽 인터페이스도 포함되어 있어 쉽고 직관적인 작업을 수행할 수 있습니다. 요약하면, TEL/TOKYO ELECTRON P-8 XL Prober는 까다로운 반도체 프로브 부문에서 신뢰할 수있는 결과를 제공하도록 설계된 고급, 고정밀 프로버입니다. 이 프로버 (Prober) 는 소형 디자인, 고해상도 도량형 기계, 프로빙 프로세스의 정확성과 효율성을 향상시키기 위해 설계된 다양한 옵션을 갖추고 있습니다. 프로버 (Prober) 는 포괄적인 안전 프로토콜과 함께 제공되며 클린 룸 (Clean Room) 표준을 준수하여 모든 프로브 작업이 안전하고 위생 적으로 수행되도록 보장합니다.