판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8LC #293671418

TEL/TOKYO ELECTRON P-8LC는 마이크로 칩 테스트 및 평가 요구 사항을 충족하도록 설계된 전문가입니다. 다목적, 사용자 친화적 Prober로, Probe, Probing 및 Measuration 작업에 안정적이고 반복 가능한 성능을 제공하며 사용 편의성과 정확성을 위해 제작되었습니다. 수동 및 자동 작업을 모두 지원하여 Probe, 매핑 및 Electrical Design 검증을 지원합니다. TEL P-8LC는 최적의 응답 및 저소음 작동을 위해 진동 격리 단계 설계를 특징으로합니다. 엑스레이 스캐닝 (X-ray scanning) 을 갖춘 비전 장비를 활용해 반도체 장치와 집적회로의 미세한 구조와 특징을 감지하고 평가한다. 시각 시스템은 정확한 타겟팅 및 프로브를위한 선형 (linear) 및 각도 (angular) 단계로 구성됩니다. 계획 및 평가 기능은 지능형 카운트 유닛 (ICS) 소프트웨어를 기반으로합니다. ICS를 사용하면 전체 칩을 한 번에 설정하고 분석할 수 있습니다. 기계에 포함 된 Probe 카드는 pulse, trigger, retest 및 pattern pulse를 포함한 여러 작동 모드를 제공합니다. 또한 이 도구에는 검색 (search), 모드 (mode) 가 장착되어 있어 장치 경계를 파악하고 정확한 평가에 필요한 재시도 (retest) 명령 수를 자동으로 생성할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON P-8LC의 정전기 척 (electrostatic chuck) 은 프로세스 전체의 안정성과 반복 성을 더욱 제공합니다. 에셋에는 압력 센서 (pressure sensor) 와 열전대 (thermocouple) 가 있으며, 이는 테스트중인 모델과 장치 사이의 안정적인 접촉을 보장합니다. P-8LC에는 다양한 기능을 제어하기 위해 다기능 CPU (Central Processing Unit) 도 장착되어 있습니다. CPU는 센서 데이터를 캡처하고 계산을 수행하여 테스트 결과를 결정합니다. 또한 평균 값, 표준 오류, 통과/실패 백분율, 기타 관련 데이터와 같은 통계 데이터를 제공할 수도 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON P-8LC는 입증 된 반복 가능한 정확도로 정확하고 안정적인 조사 및 측정 결과를 제공합니다. 이 장비는 유지 보수 및 설치가 간편한 지원 도구를 위해 설계되었습니다. 이 제품은 다양한 기능을 제공하며, 반도체 장치 및 집적회로에 대한 정밀 측정 (precision measurements) 을 위한 신뢰할 수 있는 도구입니다.