판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #293644314

TEL/TOKYO ELECTRON P-8i는 마이크로 및 나노 장치 프로브와 같은 고급 프로빙 응용 프로그램을 위해 설계된 프로버입니다. 이 제품은 매우 정확한 결과를 제공하도록 설계되었으며, 고급 소프트웨어 (advanced software) 와 매우 정밀한 하드웨어 조합을 사용하여 사용자가 최고의 정밀도 (precision level) 에 도달할 수 있도록 합니다. TEL P8I 는 사용자가 몇 번의 클릭만으로 Prober 에 액세스, 제어, 모니터링할 수 있도록 특별히 설계된 통신 시스템을 사용합니다. '데이터 손실 (data loss)' 또는 '손상 (corruption)' 의 위험을 줄여 디바이스를 사용하는 동안 발생하는 오류를 감지하고 진단할 수 있는 특수 모니터링 및 진단 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 여러 샘플 스테이지가 장착되어 있으므로 다른 샘플을 조사하기 위해 쉽게 전환 할 수 있습니다. 또한, 유연한 XYZ 동작 메커니즘으로 만들어졌으며, 다양한 동작 궤적을 다룰 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 매우 정확한 미세 조사 지점에 액세스 할 수 있으므로 나노 미터 (nanometer) 범위 평가를위한 귀중한 도구입니다. TOKYO ELECTRON P 8 I prober는 또한 sinusoidal, raster 및 vector 스캔을 포함하여 다양한 샘플을 평가하기위한 다양한 스캔 모드를 제공합니다. 따라서 스캐닝 속도 (Scanning Speed) 와 동작 패턴 (Motion Pattern) 을 쉽게 조정하여 Probe 샘플을 더 잘 수용할 수 있습니다. P 8 I 는 또한 일련의 공압 제어 장치 (pneumatic control) 를 사용하는데, 이 컨트롤은 프로버가 조사 과정에서 제어 상태를 유지하도록 설계되었습니다. 이는 환경 조건이 테스트 결과를 방해하지 않도록 하는 데 도움이됩니다. 마지막으로, TOKYO ELECTRON P-8i Prober는 온도 컨트롤러 (Temple Controller) 와 동적 레벨러 (Dynamic Leveller) 를 포함한 다양한 추가 기능을 제공하며, 이 두 기능을 모두 사용하여 테스트가 제어 환경에서 일관되게 수행됩니다. 결론적으로, TEL P-8i는 마이크로 및 나노 장치 프로브 응용 프로그램에 사용하도록 설계된 고급 프로버입니다. 이 제품은 다양한 기능과 매우 정밀한 모션 컨트롤 시스템 (motion control system) 을 갖추고 있으며, 단 몇 번의 클릭만으로 Prober에 액세스하고 제어할 수 있습니다. 광범위한 스캐닝 모드 (Scanning Mode) 와 공압 제어 시스템 (Pneumatic Control System) 은 테스트 프로세스 전반에 걸쳐 장치가 제어 상태를 유지하도록 보장하며, 결과는 매우 정확하고 일관성이 있습니다.